Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9375638 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober, der für erweiterte Fehleranalysen in modernen Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Der Prober ermöglicht Anwendern die schnelle und einfache Identifizierung und Isolierung potenzieller Fehler oder Ertragsprobleme und macht eine erweiterte Fehleranalyse viel schneller und effizienter. TSK UF 3000 Prober hat eine große 8-Zoll-Waferkapazität. Es verfügt über eine einstellbare, hochauflösende Videokamera, um detaillierte Bilder der Sondenstelle zu erhalten, und kann auch eine Vielzahl von Impedanz- und Leistungstests durchführen. Der Prober ist für hohe Präzision optimiert und auf 0,1 Mikrometer genau. Die Sondenspitze ist mit einem dreiachsigen digitalen Servoregler zur präzisen Bewegungssteuerung ausgestattet. Der Prober ist mit einem integrierten Messsystem ausgestattet, das Echtzeitleistungsmessungen und die automatische Erfassung von Sondenergebnissen ermöglicht. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Testbedingungen und Messparametern zu handhaben, einschließlich Spannung, Strom und Temperatur. Der Prober ist voll programmierbar und kann in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, von Wafertests und Auswertungen bis hin zur Fehlererkennung. ACCRETECH UF3000 prober ist auch in der Lage, eine umfangreiche Palette von parametrischen Informationen zu überwachen. Es hat die Fähigkeit, Hochfrequenzgang, Frequenzgang und Differenzkapazität zu messen. Der Prober ist auch in der Lage, Leistungsmessungen durchzuführen, wie Power-Rail-Spannungsabfall und Power-On/Power-Off-Stabilität. Es kann auch geräuscharme Leistung messen, indem s-Parameter und impulsbedingte Schaltraten (PISR) erfasst werden. Der Prober verfügt über hochdichte Bildgebung, die Defekte bis zu 0,4 Mikrometer erkennen kann. Es kann mit einer Vielzahl von integrierten Schaltungseigenschaften, wie 3D-Stapeln und Verwendung von eingebetteten und diskreten Dünnschichtstrukturen verwendet werden. Zusätzlich kann der Prober für Nachätzprüfungen verwendet werden und ist voll kompatibel mit bestehenden Messsteuerungssystemen konzipiert. UF 3000 Prober bietet eine große Kombination aus Genauigkeit, Geschwindigkeit und Leistung, die entwickelt wurde, um eine fortschrittliche Fehleranalyse schnell und effizient zu machen. Es ist benutzerfreundlich gestaltet und verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer schnell einsatzbereit sind. Es bietet einen umfassenden Satz von Funktionen und Leistungsfähigkeiten für das Sondieren und Testen einer Vielzahl moderner Halbleiterbauelemente.