Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9407060 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober zur fortgeschrittenen Analyse von Halbleiterbauelementen. Dieses Gerät bietet zwei Ebenen breiter Funktionalitäten: hohe Geschwindigkeit und hohe Genauigkeit Sondierung für die Analyse der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. TSK UF 3000 ist in der Lage, die elektrischen Parameter von Halbleiterbauelementen und Chips wie Spannung, Strom, Leistung, Impedanz und Frequenz schnell zu messen. Außerdem misst es genau die Eigenschaften von Baugruppen und diskreten Bauteilen wie Kapazität, Widerstand, Induktivität, Frequenz, Temperatur und Druck. Das UF-Modell bietet Hochgeschwindigkeits-Einzelstift-/Mehrstift-XYZ-Sondierung mit einer weltbekannten, 1 µm Z-Achsen-Auflösung und Präzisionssondierung. Darüber hinaus verfügt es über eine robuste, einfach zu bedienende Schnittstelle und eine breite Palette an anpassbaren Funktionen, einschließlich automatischer Boardausrichtung und Messkoordinierungsfunktionen. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH UF3000 über mehrere Betriebsarten, die detaillierte Analysen der Geräte- und Schaltungsfunktionalität ermöglichen. Mit Programmierbarkeit kann der Benutzer eine unbegrenzte Anzahl von Sondentests einstellen und speichern, wodurch sich ACCRETECH UF 3000 ideal für die IC-Entwicklung und Fehleranalyse eignet. UF 3000 ist für eine Vielzahl von Anwendungen konzipiert, einschließlich Gerätecharakterisierung, High-End-Sondierung, Verpackungsentwicklung, Schaltungsmessungen und Debugging, LCD-Tests, Embedded-Systeme, MEMS-Tests und -Entwicklung, Hochfrequenzcharakterisierung und Embedded-Board-Tests. Dieser Prober ist auch eine leistungsfähige Plattform für effektive Geräteprogrammierung und -tests, da er eine einfache Manipulation und Generierung von Testsimulationen ermöglicht. ACCRETECH/TSK UF3000 ist eine flexible, zuverlässige Plattform, die Geschwindigkeit und Präzision bei der Durchführung von Gerätetests bietet und zuverlässige Testergebnisse gewährleistet. Dieser Prober verfügt über Funktionen und Fähigkeiten, die ihn zu einem idealen Werkzeug für die Durchführung von Hochleistungs-Halbleiter- und eingebetteten Systemtests machen und wertvolle Einblicke in die elektrischen Parameter komplexer elektronischer Geräte bieten.