Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9407061 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein automatischer Prober, der in der Halbleiterindustrie eingesetzt wird. TSK UF 3000 wurde entwickelt, um rasch Messungen mit hoher Genauigkeit an Halbleiterscheiben durchzuführen. Es verfügt über eine vollautomatische Messausrüstung, die eine Vielzahl von Messungen mit niedrigen Stdev-Ergebnissen ermöglicht. Das System ist mit einer 20W ultravioletten (UV) Lichtquelle, einem hochempfindlichen Photosensorkopf und einer fortschrittlichen automatischen Probereinheit ausgestattet. Die UV-Lichtquelle verwendet eine spezielle Lichtbogenlampe mit einem gleichmäßig verteilten Lichtfleck, der einen gesamten Waferabschnitt abdeckt und optimierte Beleuchtungsmessungen ermöglicht. Der Photosensorkopf hat eine breite Palette von Messfeldern und eignet sich somit für Leiterplatteninspektionen mit hoher Dichte. Der fortschrittliche automatische Prober ist in der Lage, äußere Muster sowie innere Muster auf allen Arten von Substraten zu überprüfen, einschließlich Wafern und Leiterplatten. ACCRETECH UF3000 verfügt zudem über eine präzise x-y-Stufensteuerung, die eine genaue Datenerfassung von einem einzigen Punkt zur gesamten Oberfläche des Substrats ermöglicht. Die Datenerfassung wird durch eine automatisierte Messmaschine gesteuert, die eine Mustervergleichs- und Fehleranalyse, einzigartige Lösungsverifizierung und automatische Messfunktionen beinhaltet. ACCRETECH/TSK UF3000 ist in der Lage, eine Vielzahl von Visualisierungstechniken einzusetzen, darunter hochauflösendes Mikroskop, kohärente Bildgebung und Streuung. Mikroskopiebilder werden über die erweiterten Mustervergleichsfunktionen des Werkzeugs erfasst und analysiert, so dass Benutzer die Mustereigenschaften verschiedener Materialien gleichzeitig beobachten können. Die Streuungsplot-Funktion ermöglicht einen detaillierteren Vergleich der Materialeigenschaften durch die Anzeige der Daten in einem Diagramm, wodurch Fehlereigenschaften genauer identifiziert werden können. ACCRETECH UF 3000 ist ein All-in-One-Asset, das Anwendern eine schnelle und hochgenaue Inspektion von Wafern und Leiterplatten bietet. Seine fortschrittliche automatische Prober, genaue x-y-Stufensteuerung und Reihe von Visualisierungstechniken arbeiten zusammen, um eine hocheffiziente, zuverlässige Möglichkeit zu schaffen, eine Vielzahl von Substraten zu inspizieren und zu analysieren. UF3000 ist das perfekte Werkzeug für jeden Fachmann der Halbleiterindustrie, der seine Materialien schnell und genau analysieren möchte.