Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9407075 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000 (Universal Tool Fuzer) ist ein kompakter, vielseitiger Prober für Wafer-Sondierung und -Test. Es ist in der Lage, Feinabtastung von bis zu 100um zu bieten und kann bis zu 8 "Wafer aufnehmen. Der Prober verfügt über eine präzise bearbeitete, statisch ausbalancierte Basis und kommt mit einer Vielzahl von modularen Sonden sowie Lösungs-, Pflege- und Handhabungszubehör für die Anwenderanforderungen. TSK UF 3000 verwendet eine Kombination aus fortschrittlichen Algorithmen, patentierten Technologien und fortschrittlichem Hardware-Design, um Zuverlässigkeit bei hohen Geschwindigkeiten und genauen Sondierungsergebnissen zu erzielen. Es umfasst die patentierte Motion-Path Tracking (MPT) -Technologie, die sicherstellt, dass Sonden präzise auf Musterpositionen reagieren und entsprechend beschleunigen und verzögern. Der scanbereite Roboterlader des Probers ist so konzipiert, dass Wafer sicher und effizient von einer externen Station in die Prüfkammer gelangen. Es verfügt über eine direkt angetriebene, einachsige Stufe, die eine außergewöhnliche Geschwindigkeit und Genauigkeit der Positionskontrolle gewährleistet, und über ein direktgetriebenes, zweiachsiges Gimbal für feinteiliges Abtasten von bis zu hundert Mikrometer Verdrahtungsbreiten. ACCRETECH UF3000 verfügt über eine modulare Sondenausrüstung, die für spezielle Anwendungen wie 4-Draht-Widerstandsmessungen und Kelvin-Sonden konzipiert ist. Das System ermöglicht es dem Bediener, schnell und einfach aus der Auswahl der Sonden auszuwählen und innerhalb einer Minute von einer Sonde zur anderen zu wechseln. ACCRETECH/TSK UF3000 bietet auch eine temperaturgeregelte Testumgebung für gründliche Wafer Sondierung und Tests. Seine Zweizonen-Temperaturregelung hält die Wafertemperatur während der Prüfung aufrecht und nimmt jede Auf-Wafer-Temperaturänderung durch Messstrom auf. Die Einheit kann entweder in einem Standard-Single-Zone-Modus oder in einem Dual-Zone-Modus konfiguriert sein, wobei diese eine temperaturgesteuerte Testumgebung sowohl an der Vorder- als auch an der Rückseite des Wafers bereitstellt. Darüber hinaus bietet UF 3000 Anwendern einfach zu bedienende Softwarefunktionen. Die AccuStress-Software bietet Einblicke in Layoutgeometrie und Anomalien und bietet automatisierte Anpassungsfunktionen zur Optimierung von Sondeneinstellungen, um wiederholbare Messungen an mehreren Teststandorten sicherzustellen. TSK UF3000 ist ein All-in-One-Wafer-Prober, der für dynamische Sondierung, 4-Draht-Sondierung, Kelvin-Sondierung und andere Anwendungen verwendet werden kann. Seine fortschrittlichen Algorithmen, robuste Hardware und modulare Sondenmaschine bieten außergewöhnliche Geschwindigkeit und Genauigkeit, während die temperaturgesteuerte Testumgebung und intuitive Software es zu einem idealen Werkzeug für genaue und zuverlässige Leistung in High-Speed-Sondierungsanwendungen machen.