Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9408930 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9408930
Wafergröße: 12"
Prober, 12"
Chuck material: NICKEL
Hard Disk Drive (HDD)
Floppy Disk Drive (FDD), 3.5"
Magneto optical drive
Head stage
Loader
Type: FOUP and open cassette
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Auto needle alignment
Camera
X, Y Dual heidenhain scales
Color LCD Control panel with touch panel switches
Alarm lamp pole
Options:
Hot chuck: 30°C - 150°C
Wafer ID Recognition
Needle cleaning option: Wafer type and polish plate
Multi site parallel probing
Fail mark inspection system
Probe mark inspection system
GPIB Interface
Ethernet interface
Automatic probe card changer
Image processing board
Bump height setting
Group index
Multi pass probing
Printer
Network: Veganet
Tester and manipulator: ST MT72.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Prober für automatisierte Tests in der Halbleiterindustrie. Es ist ein überlegener, hochpräziser, berührungsloser Prober, der eine Reihe von optischen und mechanischen Subsystemen verwendet, um präzise, wiederholbare Messungen bereitzustellen. Die kompakte Bauweise von TSK UF 3000 und die berührungslosen Testfunktionen machen es zu einem wertvollen Werkzeug zur Steigerung des Durchsatzes und zur Verbesserung der Erträge in der Halbleiterherstellung. Es ist in der Lage, bis zu 24 verschiedene Punkte auf einer einzigen Matrize gleichzeitig zu testen, so dass es ideal für große Produktionsläufe. ACCRETECH UF3000 verfügt über eine x-y-Stufe, die zum Halten, Bewegen und Orientieren des Prüfstempels verwendet wird. Sobald die Matrize in Position ist, scannt sie eine Reihe von Lasern, um die Testpunkte zu messen. Ein leistungsstarker, integrierter Vision Algorithmus erkennt automatisch eine defekte Matrize und sorgt für genaue und zuverlässige Ergebnisse. Dieses optisch basierte System ist leistungsstark genug, um Defekte bis zu 10 Mikrometer zu erkennen. ACCRETECH UF 3000 hat auch eine Reihe von Funktionen, die es einfacher zu bedienen, einschließlich einer benutzerfreundlichen Oberfläche, intuitive Diagnose, und eine umfassende Reihe von Datenausgabeoptionen. Die Schnittstelle ermöglicht es dem Benutzer, wichtige Parameter wie Probengröße, Testfrequenz und Toleranzen anzupassen, wodurch es einfach ist, das System an spezifische Anforderungen anzupassen. Die integrierte Diagnose liefert Echtzeit-Fehlermeldungen und Statusinformationen, um Ausfallzeiten zu minimieren und die Qualitätskontrolle sicherzustellen. Die Ausgabeoptionen ermöglichen das Senden von Daten an eine Vielzahl von Geräten, was die Überprüfung und Analyse der Ergebnisse erleichtert. Insgesamt ist UF3000 ein vielseitiger, leistungsstarker und hochgenauer Prober, der eine ausgezeichnete Wahl für Halbleiterprüfungen ist. Seine erweiterten Funktionen machen es zu einer überlegenen Option für Präzisionstests und Ertragsverbesserungen.
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