Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000 #9410147 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 3000
ID: 9410147
Wafer prober Control system Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD): 3-1/2" Magneto optical drive Head stage Single FOUP port for 25 wafer, 8" -12" Manual wafer inspection transfer unit Dual robotic wafer transport arms Per-alignment stage unit Advanced wafer alignment unit Dual (X and Y) Heidenhain scales Quad pod Z stage LED Color control panel Touch panel switches Alarm lamp pole (Blue / Orange / Green) (3) Fixed trays Inspection tray LC40-12 Nickel cold chuck Chiller unit: -40°C to 150°C.
ACCRETECH/TSK UF 3000 ist ein Probergerät, das entwickelt wurde, um die Eigenschaften verschiedener Halbleitermaterialien zu testen und zu messen. Mit seiner präzisen optischen Laserstrahldetektion misst es die Widerstände von Drähten und Schaltungen und liefert ein hochgenaues Test- und Messergebnis. TSK UF 3000 verwendet eine multidirektionale XY-Scanstufe, die entsprechend den genauen Spezifikationen der zu prüfenden Materialien angezogen oder gelöst werden kann. Die Gleichungen und Einstellungen sind einstellbar, um Präzisionsprüfung und Überwachung sicherzustellen. Dies wird durch die leichte, aber stabile Struktur des Probers und seine Fähigkeit, im Betrieb hohe Geschwindigkeiten zu erzielen, weiter unterstützt. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH UF3000 über eine Diodenbrückenschaltung, einen eingebauten 16-Bit-ADC und eine Vielzahl von Widerständen und Kondensatoren, die es ermöglicht, Widerstands- und Dielektrizitätseigenschaften von Drähten, Schaltungen und Materialien genau zu erfassen. Der ADC ist thermisch robust ausgelegt und ermöglicht einen breiten dynamischen Messbereich. Das System ist auch mit hochempfindlichen und einstellbaren Sonden ausgestattet, einschließlich Kelvin-Sonden, pyramidalen und A/XP-Sonden, was seine Fähigkeiten noch verbessert. Um genaue Messungen und Ergebnisse zu gewährleisten, verwendet ACCRETECH/TSK UF3000 den HACT-Algorithmus (Heat Approximation Chromatic Transformation) und das Bewegungsschätzprinzip. Der HACT-Algorithmus kann Temperatur und Widerstand auch bei schwer erkennbaren Materialien genau messen, während das Bewegungsschätzprinzip die Messzeit erheblich reduziert und eine schnellere Probensondierung ermöglicht. Schließlich wird TSK UF3000 auch durch einen leistungsstarken, kostengünstigen PC zur Steuerung des Probers über ein Windows-basiertes Programm gesichert. Dieses Programm ermöglicht eine einfache Überwachung, Einstellung und Datenspeicherung und hilft Benutzern, effiziente und genaue Test- und Messvorgänge zu ermöglichen. Alles in allem ist UF 3000 ein ideales Probergerät für die Prüfung und Messung verschiedener Halbleitermaterialien und bietet präzise und genaue Ergebnisse.
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