Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9211360 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e automatischer Prober ist für die Prüfung und Inspektion von Wafer-Level-Geräten konzipiert. Der Prober bietet präzise Testmustererzeugung, High-Speed-Wafer-Level-Sondierung und effektive Durchführung parametrischer Messungen. TSK UF3000EX-E kann eine breite Palette von Geräten wie Halbleiter, mikro-elektromechanische Systeme (MEMS), Dünnschichttransistoren (TFT), Dünnschichtkondensatoren (TFC) und organische Leuchtdioden (OLED) testen. Der Prober kann bis zu 100 mm Wafer mit einer Geschwindigkeit von 150 Segmenten pro Stunde im Hochgenauigkeitserkennungsmodus inspizieren und ermöglicht schnelle und präzise Tests. ACCRETECH UF 3000 EXE kann mittelgroße bis kleine Defekte durch sein Advanced Z-Axis Scanning System (AZS) erkennen. AZS ist in der Lage, große und kleine I/O von Wafer-Geräten sowie Überbrückung, Schweben und Fehlen von benachbarten Geräten zu erkennen. Dadurch kann sie subtile Änderungen des Signal-Rausch-Verhältnisses erkennen. Bei der Durchführung eines Tests kann der Prober Probleme erkennen und über Software Korrekturmaßnahmen ergreifen. Der Prober unterstützt auch das Remote Distribution System, das es Halbleiteringenieuren ermöglicht, Muster mit Smartphones zu bedienen und zu modifizieren. Darüber hinaus können ACCRETECH UF 3000EX-e Testergebnisse bequem mit verschiedenen Geräten in einer sicheren Umgebung mit dem Real-Time Data Transfer System teilen. TSK UF 3000EX-e prober liefert genaue und effiziente Ergebnisse und gewährleistet einen reibungslosen Betrieb. Es verfügt über ein integriertes Design, das es dem Prober ermöglicht, die Datenkontinuität auch bei ausgeschalteten Geräten aufrechtzuerhalten. Der Prober kombiniert auch Technologie mit fortschrittlicher Software, so dass er eine erhöhte Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit beim Testen bietet. Die parametrische Fluktuationsüberwachung ermöglicht es Anwendern, mögliche Probleme mit ihrer Testnummer im weiteren Verlauf schnell zu erkennen. Darüber hinaus verfügt der Prober über einen automatischen Diamantsondenschutz, der den Verschleiß der Sonde wirksam verhindert. Darüber hinaus liefert der Kontaktkraftsensor präzise Ergebnisse und liefert Ingenieuren genaue und zuverlässige Testergebnisse. UF 3000 EX-E Prober ist eine perfekte Wahl für jedes Unternehmen, das einen zuverlässigen und effizienten Prober für Wafertests mit hoher Geschwindigkeit sucht. Mit geringen Wartungsanforderungen und robuster Konstruktion kann der Prober genaue Ergebnisse liefern und eine reibungslose Testerfahrung gewährleisten.