Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9232996 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e ist ein Hochleistungsprober, der sowohl für Wafer als auch für Substratmaterialien entwickelt wurde. Der Prober verfügt über eine doppelseitige Motorsteuerung, die eine präzise Positionierung von Wafer und Substrat mit hoher Genauigkeit ermöglicht. Sein modularer Aufbau bietet Flexibilität, so dass der Prober auf spezifische Prüfanforderungen zugeschnitten werden kann. Die Waferstufe des Probers verfügt über eine lineare Messuhr mit einer Auflösung von 0,0633 nm pro Schritt, die eine präzise Positionierung und Ausrichtung des Wafers ermöglicht. Es enthält auch ein Vakuumfutter zur Befestigung des Wafers während der Prüfung und ein pneumatisches Spannsystem zur Kontaktmessung der Waferoberfläche. Die Substratstufe des Probers umfasst eine automatisierte lineare Stufe mit 0,5 Mikrometer Auflösung sowie eine Granitbasis für maximale Stabilität bei Messungen. Ferner ist der Meßkopf mit einem Meßkopf ausgestattet, der aus einem Paar paralleler und senkrechter Meßachsen besteht und eine hohe Präzision und Wiederholbarkeit zur Messung der Eigenschaften des Substratmaterials bietet. Der Prober verfügt über eine einfach zu bedienende Software, die die verschiedenen Programme und Funktionen des Probers mit benutzerfreundlichen Befehlen steuern soll. Diese Software ermöglicht es dem Prober, die physikalischen Abmessungen und Eigenschaften verschiedener Substrate und Pakete genau zu messen. Darüber hinaus bietet der Prober eine vollständige Palette von elektrischen Tests, einschließlich Sondierimpedanz, Kappenfehleranalyse, Status offen/geschlossen Analyse, und Frequenz sweep. Insgesamt ist TSK UF3000EX-E ein Hochleistungsprober, der eine zuverlässige und genaue Prüfung für eine Vielzahl von Wafer- und Substratmaterialien ermöglicht. Der modulare Aufbau und die leistungsstarke Software ermöglichen es Anwendern, den Prober an seine spezifischen Bedürfnisse anzupassen und gleichzeitig eine hervorragende Stabilität, Präzision und Wiederholbarkeit für präzise Messungen zu bieten. Der Prober ist ideal für Anwendungen wie Wafer/Substrat-Analyse, Wafer Burn-In-Test und Halbleitertests.