Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9279317 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e ist ein vollautomatischer Prober, der speziell für Wafertests mit hoher Kapazität entwickelt wurde. Es ist in der Lage, mehrere Wafertypen im Bereich von 150mm bis 300mm in der Größe zu testen und zu sondieren. Das Gerät nutzt eine hochpräzise bewegliche Stufe, die bis zu 2mm/s für genaue Sondierung und Prüfung mit minimaler Werkzeugverschiebung fahren kann. Der Prober verfügt über 16-Bit-Auflösung mit Wiederholgenauigkeit von 0,5um für Punktgenauigkeit. Das Host-gesteuerte Design bietet Benutzern die Flexibilität, entweder eine Sondierungsausrüstung mit offener Schleife oder geschlossener Schleife zu wählen, was zusätzliche Funktionen wie Streuung, Strahlprofilierung, Overlay-Profilierung und Spannungskontrastzuordnung ermöglicht. Das Gerät ist auch für eine breite Palette von Sondenkarten ausgelegt und verfügt über einen integrierten Sondenkartenlader. Der Prober enthält auch ein Vision-Alignment-System, das X, Y, Z-Offsets kompensiert und eine optimale Platzierung mit verbesserter Genauigkeit ermöglicht. Um die Leistung und Effizienz zu maximieren, ist TSK UF3000EX-E mit einer direkt angetriebenen Motoreinheit ausgestattet, die mechanische Verluste im Zusammenhang mit rotierenden Bauteilen beseitigt. Zusätzlich kann die Antriebsmaschine bis zu 10m/s2 präzise beschleunigen, wodurch der Wafer-Mapper schnell seinen gewünschten Testbereich erreicht und die Zykluszeit reduziert wird. Der Prober bietet auch eine Reihe von Fähigkeiten für ATE-Anwendungen wie thermisches Cycling, Lasermarkierung, Messeraufnahme und elektrische Fehleranalyse. ACCRETECH UF 3000 EXE ist zudem EPA-zertifiziert für optimale Sicherheit und Klimatisierung und sorgt dafür, dass das Gerät im gewünschten Temperaturbereich arbeitet. Insgesamt ist UF 3000EX-e ein fortschrittlicher und zuverlässiger Prober, der einen maximalen Testdurchsatz für Wafer im Bereich von 150mm bis 300mm ermöglicht. Es verfügt über eine hochpräzise bewegliche Bühne, ein integriertes Ausrichtungswerkzeug für die Vision, ein Host-gesteuertes Design und eine Vielzahl zusätzlicher Funktionen, so dass es die ideale Wahl für Wafertests mit hoher Kapazität ist.