Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX #293617398 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX ist ein fortschrittlicher Prober, der in der Halbleiter- und Testindustrie eingesetzt wird. Der Prober ist mit einem vierdimensionalen (4D) Mikroskop mit einem hochauflösenden UF-Bildgebungssystem ausgestattet, das eine detaillierte Analyse verschiedener Arten von Halbleiterbauelementen und -materialien ermöglicht. Die fortschrittliche automatisierte Inspektionstechnologie ermöglicht es Anwendern, Fehler in Halbleiterbauelementen wie Leitungs-/Raum-/Kontaktbreiten, Überlappungen, Kurzschlüssen und offenen Schaltungen schnell und genau zu identifizieren. Die hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit des Probers, kombiniert mit seiner exzellenten Messtechnik und großen Probengrößen, sind ideal für die Halbleiter-Zuverlässigkeitsprüfung. Der Prober kann sowohl Inline- als auch Offline-Tests durchführen. Es ist in der Lage, sowohl In-Düsen- als auch Out-Die-Testproben zu analysieren und zu messen. Für In-Die-Proben ist der Prober in der Lage, eine Vielzahl von Defekten bei hoher Auflösung zu erkennen und zu messen. Darüber hinaus ist es in der Lage, historische Losdaten zu lokalisieren, die verwendet werden können, um die Ausbeute zu verbessern und Gerätewafer zu reduzieren. Der Prober bietet auch grafische Echtzeit-Analysen, die dazu beitragen, Zeit und Kosten des Debuggens zu reduzieren. Der Prober ist mit einer temperaturgesteuerten Sondenkarte und einem Ertragsanalysator ausgestattet, der eine zuverlässige Diagnose zur Erkennung von Shorts, offenen Schaltungen und anderen Defekten bietet. Das Sensor Technologies Automated Alignment System ermöglicht es dem Prober, Proben vom Wafer bis zum Chip genau zu messen und liefert präzise Ergebnisse. Der Prober verfügt auch über eine 4D-Bildverarbeitungs- und Mustererkennungsfunktion, die Benutzern hilft, Muster schnell und genau zu identifizieren und zu lokalisieren. TSK UF3000EX prober ist mit einer Vielzahl von Funktionen und Leistungsstufen konzipiert, die es zu einer Top-Wahl für Halbleitertests machen. Das 4D-Bildverarbeitungssystem, die automatisierte Erkennung von Funktionen und die Bildverarbeitungswerkzeuge bieten Benutzern die Möglichkeit, eine Vielzahl von Fehlern schnell zu identifizieren und zu analysieren. Die temperaturgesteuerte Karte und der Analysator bieten eine zuverlässige Diagnose. Schließlich stellt die ausgeklügelte Mustererkennungsfunktion sicher, dass Benutzer Muster schnell und genau identifizieren und lokalisieren können.