Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9160372 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX prober ist ein elektrooptischer Prober der nächsten Generation, der die Erträge bei Wafertests und elektrisch-optischen Inspektionen steigern soll. Es ist in der Lage, Wafer bis zu 8 Zoll Durchmesser mit bis zu 25 Stiften zu sondieren. Es verfügt über ein wählbares Empfindlichkeitsniveau, das die unterschiedlichsten Sondierungsanwendungen ermöglicht. Das fortschrittliche XY-Bewegungssystem gewährleistet eine präzise und konsistente Datenerfassung für Sondierungs- und Paarungssonden. TSK UF3000EX verwendet eine Stiftsonde mit 25 unabhängigen Stiften, die eine Messung und Lokalisierung an mehreren Standorten mit einem einzigen Einsatz auf dem Wafer ermöglicht. Die Sonde wurde entwickelt, um maximale Leistung für alle Arten von Wafern zu liefern. Es verfügt über zwei lineare Verformungssensoren für die virtuelle Übertragung von Ausrichtungs- und Krafteinstellungen, die eine schnelle und effiziente Sondeneinrichtung ermöglichen. Die Optik des Probers kann je nach Anwendung mit einer oder zwei Kameras ausgestattet werden. Dies liefert dem Benutzer detaillierte Inspektionsbilder, um schnell und genau zu untersuchen. Die Kameras können auch mit Filtern ausgestattet werden, um unterschiedliche Wellenlängen zu ermöglichen. Dies ermöglicht eine sichere Beobachtung des photolithographischen Musters des Wafers, was genauere Messergebnisse und die Überprüfung von Fehlermusterursachen ermöglicht. ACCRETECH UF 3000 EX bietet eine Vielzahl weiterer Funktionen, um zuverlässige, genaue Leistung zu gewährleisten. Es verfügt über eine eingebaute Verriegelung, die Beschädigungen der Sondenspitze verhindert, und eine Sicherheitsschaltung, die das durch die Bewegung der Sonde erzeugte Wärmepegel überwacht. TSK UF 3000EX ist zudem mit einem Vision-System zur Ausrichtung und Fokussierung ausgestattet. Dieses System verfügt über eine Partikelerkennungsfunktion zur schnellen und genauen Lokalisierung von Chips auf dem Wafer sowie einen bildgebenden Algorithmus, der eine statistische Analyse von Bildern ermöglicht. Um eine präzise und konsistente Leistung zu gewährleisten, verwendet ACCRETECH UF3000EX das Feedback des Encoders mit geschlossenem Kreislauf. UF3000EX Prober wurde entwickelt, um die Leistung von Wafertests und optischen Inspektionsprozessen zu maximieren. Es ist ideal für Halbleiteranwendungen, da es hohe Genauigkeitsmessungen, die Überprüfung von Fehlermustern und außergewöhnliche Leistung kombiniert.