Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9166353 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX Prober ist ein Halbleitertestgerät zur Bewertung der elektrischen Eigenschaften einer Vielzahl von Halbleiterbauelementen. Das System nutzt eine Kombination aus Rastersondenmikroskopen (SPM), Mikromesstechnik, Interferometrie und Laserbearbeitungslösungen, um dem Anwender die genaue Messung und Analyse von Halbleiterstruktur, Zusammensetzung und elektrischen Eigenschaften zu ermöglichen. Das Gerät ist in der Lage, eine Vielzahl von Funktionen auszuführen, wie Hochgeschwindigkeits-Wafer-Sondierung, Sondenkartentests, SPC-Datenerfassung und andere erweiterte Test- und Analyseoperationen. Die Maschine ist mit einem automatischen Wafer-Handhabungswerkzeug ausgestattet, mit dem Wafer zum Wechsellastanschluss transportiert werden. Durch diesen Lastanschluss können die Wafer kontrolliert ausgetauscht werden, ohne dass Verschmutzungen oder Beschädigungen gefährdet werden. TSK UF3000EX Prober ist auch mit einer Multifunktions-Multimodus-Fähigkeit ausgestattet. Dadurch kann der Anwender eine eigene Kombination von In-Loop- und Out-of-Loop-Tests wie Kontaktanalyse, elektrische Parameter, Schaltungskennzeichnung und SPC-Datenerfassung definieren. Das Asset verfügt auch über eine innovative Palette von Softwarepaketen, die es dem Benutzer ermöglichen, seine Prober-Tests anzupassen, einschließlich der Möglichkeit, verschiedene Testbedingungen zu konfigurieren, maßgeschneiderte Testprogramme zu erstellen und die Daten mit Leichtigkeit zu analysieren. ACCRETECH UF 3000 EX Prober verfügt zudem über eine integrierte Laserquelle zum Laserschneiden und Scannen. Dadurch kann der Anwender erforderliche Bereiche oder Aktivitäten auf der Halbleiteroberfläche genau messen, schneiden, mustern oder scannen. Darüber hinaus ist das Modell mit Hochfrequenz-Messfähigkeit ausgestattet, was Tests bei sehr hochfrequenten Signalen bis zu 10GHz erleichtert. TSK UF 3000EX Prober ist eine ideale Lösung für Halbleitertest- und Messanwendungen, und seine Kombination aus SPM, Mikromesstechnik und Interferometrie bietet eine genaue und zuverlässige Methode zur Charakterisierung und Auswertung einer breiten Palette von Halbleiterbauelementen. Der Anwender kann die Geräte auch nutzen, um große Datenmengen schnell und effektiv zu verarbeiten und gleichzeitig seine integrierte Laserquelle für die Laseraktivität zu nutzen.