Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9194857 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX ist ein Prober für Wafer- und IC-Tests. Dieser Prober bietet präzise Sondierung und genaue Messungen für eine breite Palette von Tests, mit einer maximalen Inspektionsfläche von 50 mm x 50 mm. Es verfügt über eine X-Y-Z-motorisierte Bühne zusammen mit einem fortschrittlichen Probentransfersystem, das genaue und wiederholbare Messungen ermöglicht. Der Prober wurde entwickelt, um einen stabilen und wiederholbaren Inspektionsprozess bereitzustellen und kann verwendet werden, um eine Vielzahl von IC-Produkten zu testen, einschließlich logischer, gemischter, analoger, HF und optischer Designs. Der Prober bietet eine hohe Auflösung der Probenposition und einen hohen Durchsatz mit einem großen Dynamikbereich. TSK UF3000EX verfügt über eine flexible Software-Einstellungen und ist in der Lage, Multi-Sonden-Konfigurationen, die genaue und wiederholbare Messungen ermöglicht. Es verfügt auch über eine erweiterte automatische Ausrichtungsfunktion, die Genauigkeit und Wiederholbarkeit auch in ICs und Paketen mit hoher Dichte gewährleistet. ACCRETECH UF 3000 EX bietet auch eine breite Palette von Testoptionen, einschließlich Zeitbereichsleistungsmessung, DC parametrische Tests und optische Sondierung. Mit den erweiterten Konfigurationsfunktionen und verschiedenen Testoptionen kann der Benutzer die Testparameter und Programmverfahren anpassen, um die spezifischen Anforderungen ihres IC-Designs zu erfüllen. ACCRETECH/TSK UF3000EX ist zudem in der Lage, Hochgeschwindigkeitstests durchzuführen und verfügt über ein effizientes Datenerfassungsmanagement. Der Prober hat auch Umgebungseinstellungen für eine bessere Kontrolle und Genauigkeit in seiner Testumgebung, wie Temperatur, Atmosphärendruck, relative Luftfeuchtigkeit und Vibrationstoleranz. Abschließend ist ACCRETECH UF 3000EX ein Prober mit einer breiten Palette von Fähigkeiten und Flexibilität, die es zu einem großartigen Werkzeug für Wafer- und IC-Tests machen. Die hochpräzisen und wiederholbaren Bewegungen in Kombination mit fortschrittlichem Datenerfassungsmanagement und Multi-Sonden-Konfigurationen machen es zu einer guten Wahl für das Testen vieler Arten von Designs.