Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9249853 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX Wafer Prober ist ein automatisiertes Probing-Gerät zum Testen integrierter Wafer-Level-Schaltungen. Es ist ein vollautomatisches System, das in der Lage ist, verschiedene elektrische Tests von Geräten auf dem Wafer durchzuführen. Das Gerät ist in der Lage, kleine bis große Wafer zu unterstützen und kann bis zu 24 Standorte erweitern, um mehrere Chips gleichzeitig zu testen. TSK UF3000EX beherbergt eine vollautomatische Probermaschine, eine Schnittstellensignalkarte, eine Sondenkarte und ein automatisches Kalibrierwerkzeug. Die automatische Kalibriereinrichtung dient zur Wafer-Zustandserkennung, zur exakten Abtastwinkelregelung und zur sensiblen Erkennung auch kleiner Fehler im Signalweg. Die Signalkarte liefert elektrische Signale an die Tastkarte, die dann die Signale an den zu prüfenden Wafer überträgt. Der Prober sorgt für genaue Signalverbindungen, indem er einen sicheren und konsistenten Kontakt auf dem Wafer aufrechterhält. Das Modell wurde entwickelt, um die Anforderungen sowohl der traditionellen manuellen Sondierung als auch der fortschrittlichen automatisierten Sondenanforderungen zu erfüllen. Das Design ermöglicht die Anbindung an herkömmliche Testsysteme sowie moderne computergestützte Testsysteme. Darüber hinaus unterstützt das Interface Board durch den Einsatz von TSK DataGate Software eine Vielzahl von Softwareanwendungen, wie z.B. ATI. Das Gerät bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, die es für eine Vielzahl von Wafer-Prüfanwendungen geeignet machen. Beispielsweise unterstützt das System bis zu 50 programmierbare Standorte, was eine große Flexibilität beim Einrichten von Tests für verschiedene Wafer ermöglicht. Darüber hinaus bietet das Gerät auch erweiterte Fehlerkorrekturalgorithmen, um die Genauigkeit der Signalverbindungen sicherzustellen. Insgesamt ist ACCRETECH UF 3000 EX wafer prober eine innovative automatisierte Probermaschine, die sowohl manuelle als auch automatisierte Probertechnologien in einem einzigen Werkzeug bietet. Die Anlage ist in der Lage, genaue und zuverlässige Ergebnisse für eine breite Palette von Wafer-Testanwendungen zu liefern. Darüber hinaus sind die schnelle und genaue automatische Kalibrierung des Modells und die robuste Schnittstellenkarte eine ideale Wahl für optimale Wafertests.