Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9258199 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000EX ist ein Prober, der erweiterte Sondierungsfunktionen für integrierte Schaltkreis (IC) -Komponenten bereitstellt. Dieses Tool wird verwendet, um die Leistung der IC-Komponenten zu bewerten, um ihre erwartete Siliziumleistung zu erfüllen. Mit seiner Mikropositioniergenauigkeit hilft TSK UF3000EX Halbleitertestingenieuren, kritische Leistungsprobleme schnell, zuverlässig und effektiv zu ermitteln. ACCRETECH UF 3000 EXs kleine Stellfläche und das schlanke Design bieten überlegenen Komfort, wenn es um die Montage auf einer Produktionslinie geht. Das benutzerfreundliche Design des Probers macht es auch einfach zu bedienen und zu navigieren. Die intuitive Menüstruktur und die grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglichen es Halbleitertestingenieuren, ihre Testparameter einfach zu konfigurieren und ICs schnell zu probieren. ACCRETECH UF 3000EX bietet dank seiner leistungsstarken Sondierungstechnologie hervorragende Leistung und Zuverlässigkeit. Dank seiner robusten und zuverlässigen Konstruktion eignet es sich gut für Echtzeit-Sondierungsanwendungen, wie das Sondieren von dicht verpackten ICs. Dank der Mehrpunkt-Messtechnik können Anwender großflächige ICs mit komplexen Konstruktionen mit nur einem Testaufbau problemlos sondieren. Neben seiner Genauigkeit und Zuverlässigkeit ist UF3000EX auch auf Flexibilität ausgelegt. Sein modularer Aufbau ermöglicht es Anwendern, seine Testkonfigurationen schnell und einfach zu ändern, um verschiedenen IC-Designs gerecht zu werden. Darüber hinaus ermöglichen die standardmäßigen mechanischen Schnittstellen den Anwendern den schnellen und einfachen Anschluss verschiedener Instrumente und PCs, wie Manometer, Thermoelemente und Oszilloskope. Abschließend ist TSK UF 3000 EX ein vielseitiger und zuverlässiger Prober, der außergewöhnliche Leistung und Flexibilität für die Sondierung von IC-Komponenten von der Stange bietet. Seine hochgenauen Mikropositionierungsfunktionen in Kombination mit seinem benutzerfreundlichen Design ermöglichen es Halbleitertestingenieuren, kritische Leistungsprobleme mit IC-Komponenten schnell und einfach zu ermitteln. Darüber hinaus bieten der modulare Aufbau und die standardmäßigen mechanischen Schnittstellen den Anwendern die Möglichkeit, ihre Testaufbauten schnell und einfach für verschiedene IC-Designs zu konfigurieren.