Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 3000LX #9223028 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 3000LX ist ein Prober, der speziell für Wafer-Sondierungsanwendungen entwickelt wurde. Dieser Prober eignet sich für den Einsatz in Halbleiterprüfungen, Werkstoffprüfungen, Gerätevalidierungen, Gerätecharakterisierungen oder Fertigungslosqualifizierungsverfahren. Das Gerät ist ein Prober mit vertikaler Achse, der die längste und stabilste Sondierungsplattform auf dem Markt bietet. TSK UF 3000LX ermöglicht es Benutzern, höhere Sondierungsdrücke und Kontaktkräfte für eine höhere vertikale Genauigkeit auf sehr kleiner Fläche auszuführen. Mit seiner festen Struktur und seinem stabilen Betrieb führt dieser Prober zu einer höheren Ausbeute bei weniger Ausschuß. Der Prober ist mit einem Datenerfassungssystem ausgestattet, das es ermöglicht, eine breite Palette von Materialien wie Silizium, SOI, MEMS, Bonding und Verpackung zu sondieren. Das Gerät verfügt über zwei Bewegungsstufen der Sonde mit einem integrierten einstellbaren Bereich von bis zu ± 1 mm (Standard). Dieser Prober weist außerdem eine zusätzliche Stufe der Z-Achsen-Bewegung auf. ACCRETECH UF3000LX ist mit einem Regelmechanismus ausgestattet, der es dem Werkzeug ermöglicht, die Einstellzeit automatisch zu korrigieren. Der Prober verwendet einen hochpräzisen Gleichstrommotor, um einen stabilen dreiachsigen Bewegungsmechanismus zu erreichen. Es verfügt auch über eine Wasserumwälzeinheit, Luftkühlableitung und eine Luftstrahlmaschine für eine effizientere Kühlung der einstellbaren Sonden. Neben den beiden Bewegungsstufen und der Z-Achsen-Bewegung verfügt TSK UF3000LX auch über ein Vision-Tool. Das Vision-Asset ermöglicht es dem Benutzer, vor und nach der Probenahme mit Hilfe einer hochauflösenden Kamera für eine genaue Prüfung der Probe zu überprüfen. Dieser Prober ist auch mit einem Touchscreen und 200MHz Micro TSK DSP Controller mit Ethernet-Konnektivität ausgestattet. Der DSP ist in der Lage, mit einem Host-PC sowie mit Testgeräten und Testsystemen zu kommunizieren, sodass Anwender ACCRETECH UF- 3000LX in bestehende Testprozesse integrieren können. UF 3000LX verfügt zudem über eine automatisierte Kalibrierungsfunktion. Dadurch wird sichergestellt, dass bei jeder Messung die einzelnen Sondenelemente korrekt ausgerichtet und aufgehängt werden, um mit der Probenoberfläche genau zu interagieren. UF3000LX ist die perfekte Lösung für Wafer-Sondierungsanwendungen, dank seiner robusten Struktur und fortschrittlichen Funktionen. Seine hohe Präzision und Stabilität macht es einfach zu bedienen und sorgt für zuverlässige, genaue Messergebnisse.