Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 300A #136391 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 300A ist ein Prober, der speziell für die Oberflächenanalyse moderner Halbleiterbauelemente wie integrierte Schaltungen (ICs) entwickelt wurde. TSK UF300A ist eine vollautomatische Desktop-Ausrüstung, die eine äußerst zuverlässige, genaue und wiederholbare Analyse der Halbleiteroberflächen ermöglicht. Das System verfügt über automatisierte Musterpositionierung, automatische Kalibrierung und integrierte Hard- und Software, die es einfach zu bedienen und zu warten. ACCRETECH UF-300A ist ein variabler Druckprober, der Luftdruck- und Oberflächenanalyse kombiniert. Das Gerät ist mit einem invertierten optischen Mikroskop ausgestattet, das die Oberfläche der Probe zur dispersiven Abbildungseinheit bringt. Das optische Mikroskop fungiert als Echtzeitdetektor und gibt dem Anwender Echtzeiteinblicke in die mikroskopischen Merkmale und Elemente auf der Oberfläche der Probe. ACCRETECH UF 300 A setzt eine Hochgeschwindigkeits-Autofokusmaschine ein, die den Fokus auf der Oberfläche der Probe ständig einstellt, um ihre Abmessungen genau und genau zu messen. Dieses Hochgeschwindigkeits-Autofokus-Tool optimiert auch die Fähigkeit des Prüfers, die Oberflächentopographie schnell aufzulösen. Zur Feinmotorsteuerung wird ein Piezo-Elektromotor verwendet, der es dem Gerät ermöglicht, die Oberfläche der Probe präzise zu scannen. Das integrierte Steuerungsmodell von UF 300A ermöglicht es dem Anwender, den gesamten Probenanalyseprozess zu automatisieren. Dieses Gerät bietet dem Anwender umfassende Datenerfassungs- und Analysefunktionen, einschließlich Messgenauigkeit, Wiederholbarkeit und automatisierter Musterpositionierung. Die integrierte PC-Software hilft weiter bei der Datenanalyse der Ergebnisse des Anwenders und gibt ihnen ein genaues, umfassendes Bild der Oberflächeneigenschaften der Probe. UF-300A ist ein notwendiges Werkzeug für die Oberflächenanalyse moderner Halbleiterbauelemente. Aufgrund seiner Eigenschaften und Fähigkeiten eignet es sich besonders zur Analyse der mikroskopischen Merkmale einer Probe. Das integrierte Steuerungssystem und die automatisierte Probenpositionierung erleichtern den Prozess und erhöhen die Genauigkeit und Konsistenz der Ergebnisse. So macht ACCRETECH/TSK UF-300A die Oberflächenanalyse moderner Halbleiterbauelemente zu einem zuverlässigen und präzisen Prozess.