Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 60 #9226940 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK UF 60
Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 60
ID: 9226940
Weinlese: 2008
Prober Air: 0.4M Pa Vacuum: > 53k Pa Wiring configuration: 2 Wires + ground Main breaker rating: 10A Voltage: 100 VAC, 1-Phase Frequency: 50/60 Hz 2008 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 60 ist ein Prober zur Prüfung und Charakterisierung von Wafern mit einem kleinen Durchmesser von bis zu 3 Zoll. Dieser Prober verfügt über einen optischen Drehgeber mit hoher Auflösung, der genaue Wiederholbarkeit und hochpräzises Scannen bietet. Der Prober ist in der Lage, bis zu 100 Sonden gleichzeitig zu sondieren und bietet bis zu 4x Vergrößerung und eine maximale Sondengeschwindigkeit von 20 μ m/s. TSK UF 60 verfügt auch über einen Autofokus, LED-Beleuchtung, digitalen Zoom und eine dedizierte gekippte Arbeitsfläche, die leicht eingestellt werden kann. ACCRETECH UF 60 ist in der Lage, jeden Wafer von bis zu 3 Zoll Durchmesser oder alternativ eine Halbleiter Standard Assembly (SSA) unterzubringen. Dieser Prober ist für berührungsloses Scannen konzipiert und eignet sich daher ideal für Hochgeschwindigkeits- und Niederkraftscannen. Darüber hinaus ist es in der Lage, hochauflösende Scans auf Nanometerebene durchzuführen. Darüber hinaus ist der Prober benutzerfreundlich gestaltet und bietet eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit einem Touchscreen-Bediensystem. UF 60 wurde mit einer extrem robusten Konstruktion entworfen, die eine präzise Sondierung in Winkel und Höhe ermöglicht. Der Prober ist so konzipiert, dass er einfach in jedes automatisierte Wafer-Sondierungssystem integriert werden kann. Zusätzlich kann der Prober bei Bedarf in einem vollautomatischen Modus für schnelle Tests betrieben werden, so dass bis zu 50 Sonden pro Sekunde möglich sind. ACCRETECH/TSK UF 60 verfügt über eine robuste Bedienbarkeit und ist in der Lage, in einem breiten Spektrum von Temperaturextremen zu arbeiten, was einen zuverlässigen Langzeitbetrieb ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht die optionale X-Y-Stufe mehrere Arrays mit einem Prober, was die Testkapazität und Präzision verbessert. TSK UF 60 verfügt über eine voreingestellte Kalibrierung, die zeitaufwendige manuelle Kalibrierungen eliminiert und einen anpassbaren Ausrichtungsprozess bietet. Insgesamt ist ACCRETECH UF 60 prober eine erstklassige Wafer-Prüfmaschine, die zuverlässig und präzise ist. Mit seinen multifunktionalen Funktionen, der benutzerfreundlichen Benutzeroberfläche und der robusten Bedienbarkeit bietet es Anwendern eine umfassende und einfach zu bedienende Lösung für Wafer-Tests und -Charakterisierung.
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