Gebraucht ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY / AIT CMT-SR2000N #9218034 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9218034
Wafergröße: 8"
Automatic system, 8"
XYZ-Axis fully automatic system
High precision JANDEL P-point probe head
Auto / Manual range selection
Built-in temperature sensor
Remote control by operating PC
Data analysis (2D, 3D map)
ASTM & SEMI Quick measurement mode
Includes:
JANDEL 4-Point probe head unit
Z-Axis robot arm
Revolution sample stage chuck (XY-Axis)
Membrane keyboard panel
LCD Display window
Remote control communication port
Vacuum hose connector (200 mm Hg)
Accessories
Operating PC
Power cable & USB Cable for remote control
AIT Reference, 3"
Specifications:
Sheet resistance measurement:
Measuring method: Contacted by 4-Point probe
Measuring range: 1 mohm / sq ∼ 2 Mohm / sq
Resistivity measurement:
Measuring method: Contacted by 4-Point probe (Input thickness)
Measuring range: 10.0 μohm·cm ∼ 200.0 kohm·cm
Measurement accuracy:
± 0.5 % (Precision resistor)
JANDEL 4-Point probe
Pin spacing: 25 mils ∼ 50 mils by 5 mil increments
Pin load: 10 gram / pin ∼ 250 gram / pin
Pin radius: 12.5 micron∼500 micron (polished 2μ diamond)
Tolerance: ± 0.01 mm
Needles: Solid tungsten carbide φ0.40 mm
Measurement condition: Wafer type, measure point interval
Save & load: Data, wafer type, measure point
Data analysis: 2D, 3D Mapping, data map
On / Off: Remote, vacuum
Data export: Excel format & printout
Measurement mode:
Auto measurement: Point interval designation by user
Quick measurement: ASTM & SEMI Mode
Point measurement: Appointment on wafer by mouse
Manual measurement: Appointment on wafer by arrow key
Measuring time:
Approximately 2 ± 1 sec / point
Operating personal computer: IBM PC / AT compatible
USB Communication
Stage chuck vacuum requirements:
Vacuum: 200 mm Hg
Vacuum hose: Urethane 4 mm
Operating & service manual
Power:
Line voltage: AC 220 V ± 10%
Electric power: 40 W, 500 mA
Line frequency: 50/60 Hz
Current source:
10 nA to 100 mA
DVM 0V to 2,000 mV.
ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY/AIT CMT-SR2000N ist ein hochpräziser Prober für automatisierte Komponententests. Es ist eine kompakte, flexible und wirtschaftliche Kombination aus einem Wafer-Prober und einem automatisierten Bauteiltester. Dieser Prober bietet unübertroffene Genauigkeit und schnelle, zuverlässige Datenerfassung. AIT CMT-SR2000N wurde entwickelt, um Komponenten von 100 Mikrometern bis 1,5 Millimetern zu testen. Es verfügt über einen hochauflösenden Prober, der auf einem präzisen Piezomotor basiert und bis zu 10 Mikrometer Hubauflösung bietet. Dieser Prober verfügt über ein fortschrittliches Bewegungssteuerungssystem, das eine konsistente, wiederholbare Prüfgenauigkeit mit Hochgeschwindigkeitsverarbeitung bietet. Es kann auch programmiert werden, um Daten von mehreren Komponenten gleichzeitig zu erfassen. ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY CMT-SR2000N umfasst einen erweiterten Tastkopf und erweiterte Softwarefunktionen zum Testen einer Vielzahl von Komponenten. Es verfügt über einen hochstabilen Tastkopf mit automatischer Kalibrierung und wiederholbarer Kraftbestimmung, die bei jedem Test genaue Ergebnisse gewährleisten. Der Kraftbereich der Einheit ist auf maximal 10 Newton einstellbar und eignet sich somit für die Prüfung einer Vielzahl von Komponenten. Der Prober kann in Kombination mit jedem Computersystem zur Steuerung der automatisierten Komponententests verwendet werden. Es ist kompatibel mit PC-basierten Computern und bietet eine offene Plattform für schnellen Datenzugriff und Kontrolle des Probers. CMT-SR2000N verfügt auch über ein farbiges Touchscreen-Display für eine einfache visuelle Bedienung. ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY/AIT CMT-SR2000N ist eine ausgezeichnete Wahl für Komponententests in einer Vielzahl von Umgebungen. Seine leistungsstarke, präzise und zuverlässige Leistung sowie eine Reihe von Funktionen machen es zu einem idealen Prober für Industrie- und Bildungslabore. Mit seiner einfach zu bedienenden Schnittstelle ist dieser Prober ideal, um jeden Komponententestprozess schnell und genau zu automatisieren.
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