Gebraucht CASCADE MICROTECH / ALESSI CM 300-S #9357262 zu verkaufen

CASCADE MICROTECH/ALESSI CM 300-S ist eine Sondenstation für Wafer-Sondierung, Modulprüfung und Materialcharakterisierung. Diese Sondenstation ist mit einer überlegenen elektrostatischen Planarität ausgestattet, wodurch Messungen an Proben mit sehr hoher Präzision durchgeführt werden können. Es verfügt auch über ein Fünf-Achsen-Steuersystem, mit dem Benutzer eine Sondenspitze an einer genauen Stelle auf einem Gerät oder einer Waferoberfläche bewegen und positionieren können. ALESSI CM 300-S ist eine temperaturgeregelte Sondenstation mit einer Arbeitsfläche von 380mm x 380mm. Die Station ist in der Lage, Temperatursteuerung von -40 ° C bis + 175 ° C, so dass eine überlegene thermische Stabilität bei der Durchführung von Sondierung und Untersuchungen. Für eine schnelle, präzise Probenpositionierung und Geräteprüfung steht ein Sondenarm zur Verfügung. Der Arm bietet zudem einen Vorwärts-/Rückwärtsneigungsbereich von bis zu 45 ° und um eine Drehung von bis zu 360 °. Die Station ist außerdem mit einem patentierten „Tip-to-Sample“ -Ausrichtsystem zur genauen Platzierung der Sondenspitze in Bezug auf die Waferoberfläche ausgestattet. Die Sondenstation weist außerdem eine elektrisch isolierte Luftlagerkonstruktion auf. Diese Konstruktion beseitigt Probleme durch elektrische Kopplung, wie Rauschen, Störungen und Cross-Talk, und bietet gleichzeitig eine überlegene laserbasierte Ausrichtung. Darüber hinaus verfügt CASCADE MICROTECH CM 300-S über eine wählbare Niedervakuumfunktion, die Messungen an hochgenauen Vakuumzielen ermöglicht. Dieses Merkmal bietet auch eine überlegene Stabilität bei der Messung von Proben, die mit nichtleitenden Materialien beschichtet sind. CM 300-S verfügt über umfangreiche Software-Tools zur Steuerung und Überwachung von Sondierungs- und Testvorgängen. Diese Software bietet Echtzeit-Datenerfassung und -analyse für Systeme vom Typ Acquire/Display/Analyze (ADA). Eine hochgenaue Röntgenfunktion ist enthalten, um eine korrekte Ausrichtung der Sonde auf einem Wafer oder einer Geräteoberfläche zu gewährleisten. Dieses Merkmal dient auch zur präzisen Temperaturregelung einer zu prüfenden Probe. Zusätzlich kann das System bis zu 24 Geräte gleichzeitig testen und ist somit für Mehrgeräteprojekte geeignet. Insgesamt ist CASCADE MICROTECH/ALESSI CM 300-S ein fortschrittlicher Prober für Wafer-Sondierung, Modultests und Materialcharakterisierung, der überlegene elektrostatische Planarität, Fünf-Achsen-Steuerung, Temperaturregelung und erweiterte Softwarefunktionen bietet. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten machen es ideal für eine breite Palette von Laboranwendungen.