Gebraucht CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 4100A #9226784 zu verkaufen

ID: 9226784
Probe station With BAUSCH & LOMB Objectives: 2.25x, 0.04 NA 8x, 0.15 NA 25x, 0.31 NA 50x, 0.45 NA.
CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 4100A ist ein fortschrittlicher Prober, der zum Testen von ICs, Multi-Chip-Modulen und Optoelektronik entwickelt wurde. Es ist ein vielseitiges, kostengünstiges Werkzeug für Serienanwendungen. ALESSI REL 4100A verfügt über eine intuitive Bedieneinrichtung und eine Benutzeroberfläche, die die Bedienung einfach und effizient macht. Es verfügt über vier mechanische Achsen, die es ermöglichen, sich in vertikaler, horizontaler und zwei Drehrichtungen zu bewegen. Diese Konfiguration eignet sich gut zum Testen größerer ICs, Multi-Chip-Module und Optoelektronik. CASCADE MICROTECH REL 4100A ist mit einem Vergrößerungssystem ausgestattet, das ein fünffaches Zoomobjektiv verwendet und die Inspektion einzelner Standorte bis zu 50 Mikrometer ermöglicht. Diese Objektive sind CCD-freundlich und verfügen über eine Video-Subtraktionsfunktion und integrierte Fiduzials zur Ausrichtung. Darüber hinaus verfügt REL 4100A über einen 32-Bit RISC-Prozessor für maximalen Durchsatz und Maschinensteuerung. Es ist in der Lage, mehrere Tests und Sondierungszyklen gleichzeitig durchzuführen und hat einen Durchsatz von mehr als 1000 Sonden pro Stunde. CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 4100A ist darüber hinaus mit einer automatisierten Nahtverfolgungseinheit ausgestattet, die eine hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit bei der Sondierung von engen Kabelbündeln und ICs in schwer zugänglichen Bereichen gewährleistet. Eine flexible Bibliothek mit Testmustern und Diagnosen ist ebenfalls enthalten und kann zur Durchführung von Komponenteninspektionen und zur Fehlerbehebung verwendet werden. ALESSI REL 4100A verfügt auch über eine Passwortschutzmaschine für den sicheren Betrieb. Mit dieser Funktion kann der Benutzer individuelle Zugriffsstufen festlegen, um Testinformationen vor unbefugtem Zugriff zu schützen. Insgesamt ist CASCADE MICROTECH REL 4100A ein vielseitiges Werkzeug zum Testen von ICs, Multi-Chip-Modulen und Optoelektronik. Es ist mit einem intuitiven Bedientool und einer Benutzeroberfläche, einem Vergrößerungsobjekt, einem automatisierten Nahtverfolgungsmodell und einer flexiblen Bibliothek mit Testmustern und Diagnosen ausgestattet. Es verfügt auch über eine Passwort-Schutz-Ausrüstung für den sicheren Betrieb. Dieser fortgeschrittene Prober ist eine ideale Wahl für Serienanwendungen.
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