Gebraucht CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 4300 #9119307 zu verkaufen

ID: 9119307
Wafergröße: 6"
Probe station, 6" Chuck, 6" Travel: 6" x 6" Manual lifting platen Z Movement controlled by chuck MicroZoom optics zoom: 80-160X and 250-500X.
CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 4300 ist ein Prober für automatische Wafertests. Der Prober ist ideal zum Testen von Wafer-Halbleiterbauelementen wie Logik oder Speicher. Es umfasst eine vollautomatische Handhabungsausrüstung und verfügt über einfach programmierbare Funktionen. Der Prober ist mit einer Vielzahl von elektrischen Messwerkzeugen ausgestattet und kann Testergebnisse mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit messen. ALESSI REL 4300 besteht aus mehreren Komponenten, darunter einem Großrechner, einem Wafer-Handler und einem multifunktionalen elektrischen Charakterisierungssystem (EMCS). Das Mainframe beherbergt den Wafer-Handler und EMCS, während der Wafer-Handler Wafer zur gewünschten Sondenstation transportieren kann. Das EMCS umfasst eine Vielzahl von elektrischen Messungen wie Temperatur, Spannung, Phase, Frequenz und Strom. Darüber hinaus verfügt der Prober auch über eine Wafer-Ausrichteinheit und eine Software-Lademaschine. Der Prober ist auch vollautomatisch, was bedeutet, dass er eine Reihe von Tests mit minimaler Benutzerinteraktion durchführen kann. Es kann programmiert werden, um komplexe Prozeduren mit einer Vielzahl von Einstellungen abzuschließen. Darüber hinaus ist der Prober mit einem Audit-Prozess ausgestattet, um Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten, die durch den Einsatz verschiedener Software-Tools wie mehrdimensionale Charakterisierung, statistische Analyse und Produktverarbeitung ermöglicht wird. In Bezug auf Testfunktionen hat CASCADE MICROTECH REL 4300 prober die Fähigkeit, mehrere Wafer-Standorte in einer Sitzung zu testen. Es kann bis zu maximal 100 Wafer-Sites pro Sitzung testen, mit einer Testgenauigkeit von 0,25 Mikrometer. Darüber hinaus kann der Prober mit seinen programmierbaren Fähigkeiten simultane Messungen und Tests an mehreren Standorten durchführen. Das Prüfverfahren umfasst auch eine kalibrierte Schwellenspannung und Tiefenprofilierung und kann in verschiedene Testplattformen integriert werden. Insgesamt ist REL 4300 prober eine vielseitige und zuverlässige Testlösung für Wafer-Halbleiterbauelemente. Seine automatisierte Handhabung und programmierbaren Fähigkeiten, kombiniert mit seinem breiten Spektrum an elektrischen Messungen, machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen. Darüber hinaus ermöglicht seine Fähigkeit, mehrere Standorte pro Sitzung zu testen, schnelle und genaue Ergebnisse, so dass es eine großartige Lösung für alle automatisierten Wafer-Tests Anforderungen.
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