Gebraucht CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 12000B-HS #9313345 zu verkaufen

CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 12000B-HS prober ist ein Präzisionsmessgerät für die automatisierte Prüfung elektrischer Geräte. Dieser vollautomatische, mehrkanalige Scanprober ist in der Lage, sowohl große als auch kleine Wafer (bis 300mm) für eine breite Palette von Probenahmegrößen zu handhaben. Es wird zur Messung von Waferwiderstand, Kapazität, Induktivität und anderen Signalen über große Flächen sowie kleine Flächen verwendet, was eine extrem hohe Genauigkeit erfordert. Der Prober verfügt über einen maximalen X-Y-Stufenlaufbereich von 12 „(300mm), der eine präzise Einstellung mehrerer Sondierungsstellen auf einem Wafer sowie die Fähigkeit zur Handhabung maximaler Leiterplattengrößen bis 12“ ermöglicht. Die mechanische Montage von ALESSI Summit 12000B-HS ist mit einer 0,5 µm-Stufenauflösung galvanometerbasierten Positionierung mit einer Wiederholbarkeit von 0,02 µm ausgestattet. Dieses System verfügt über eine integrierte Schwingungsisolierungsfähigkeit, die auch in rauen Umgebungen Auflösungen von bis zu 50 µm ermöglicht. Darüber hinaus verfügt der Sondenkopf über ein innovatives Design, das es ermöglicht, eine schnelle, wiederholbare Platzierung von Sonden durchzuführen. Mit einer Kombination aus Bewegungssteuerung, Timing und Präzisionspositionsprüfung kann jede Sonde mit einer Genauigkeit von ± 0,001 "(2,5 µm) in Position gebracht werden. Der Tastkopf ist mit einem verstellbaren federbelasteten Spitzenhalter zur präzisen und schnellen Platzierung sowohl aktiver als auch passiver Sonden sowie einer AC/DC-Signalkopplung ausgestattet. Darüber hinaus verfügt dieses System über ein aktives Schwingungsunterdrückungssystem, das eine weitere Genauigkeit beim Kontakt ermöglicht. Beim Testen verwendet CASCADE MICROTECH Summit 12000B-HS branchenführende Software- und Hardwarekomponenten, um höchste Auflösung und Genauigkeit für die Signalcharakterisierung zu bieten. Es wurde mit Blick auf Flexibilität entwickelt, so dass Benutzer aus einer Vielzahl von Testparametern und Messmodi wählen können, einschließlich Punkt-zu-Punkt und Scan-Messungen. Eine Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung ermöglicht bis zu 40.000 Samples pro Sekunde. Ideal für fortgeschrittene Prototypen- und Produktionstests ist Summit 12000B-HS prober ein zuverlässiges, hochpräzises Instrument, das in der Lage ist, genaue Ergebnisse in einer Vielzahl von Einstellungen zu liefern. Mit seiner intuitiven Oberfläche und umfassenden Prüfparametern bietet dieser Prober eine umfassende Lösung für eine breite Palette von Wafer-Sondierungsanwendungen.