Gebraucht DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM #102353 zu verkaufen
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ID: 102353
Hand held probe for TEKTRONIX TDR oscilloscopes
30GHz, Differential & Single-end, 0.25~2mm pitch adjustable
Used for: TDR/TDT, S-parameter
Features:
30 GHz Bandwidth
True Odd Mode 100 ohm Differential Input Impedance
Probe can be converted to 50 ohm input impedance
TDR Launch Discontinuity <20 mv
Fall Time 20 ps or <5 ps Fall Time Degradation
Fully Balanced Differential Signals without Ground Contact
Adjustable Probe Pitch from 0.25 mm to 2.0 mm
Probe Tip diameter 0.254 mm
Gold Plated Conductive Diamond non oxidizing probe tips for
repeatable TDR measurements
Low probing force <10 grams
Four probes in one: Use as a 100 ohm, 50 ohm, as a Hand Probe or
Mount in a probe articulating arm for hands free probing
Full Set of Probe Pitch Calibration Accessories Included
Characteristics:
Attenuation: 1X
Probe Only Bandwidth: 30 GHz
TDR Degradation: <5 ps
Probe Pitch: 0.25 mm to 2.0 mm (signal tip to signal tip)
Connector Type: SMA
Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps
Impedance: 100 differential, 50 common mode,
Max Voltage In: 5.0 V
(Note: numeric values shown are typical)
Applications:
Create - Single Ended, Differential Insertion, Return Loss Sparameters
from TDR/ TDT Measurements for determining interconnect
bandwidth performance using Tektronix DSA8200 TDR and IConnect®
Impedance Testing - Use IConnect for precision impedance analysis
of IC Packages, Cables, PCB’s and Backplane Testing
Failure Analysis of Device Packages - Locate failure modes.
DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM ist ein fortschrittliches Halbleitersondierungsgerät, das entwickelt wurde, um branchenführende Genauigkeit und Geschwindigkeit bei der Prüfung und Messung der Leistung von Halbleitermaterialien zu bieten. Das Gerät verfügt über eine Reihe hochpräziser Sonden, die ein extrem rauscharmes Design aufweisen und es Anwendern ermöglichen, elektrische Signale von den kleinsten Schaltungen genau zu messen. Das Gerät verfügt über ein kompaktes, ergonomisches Design mit einer langen und stabilen Plattform für effiziente Tests. Die verstellbare Spindelhalterung ermöglicht eine einfache Positionierung, um schnell auf Testkomponenten zuzugreifen und diese genau anzupassen, was eine schnellere Sondierung und bessere Leistung ermöglicht. Die Plattform ermöglicht auch eine schnelle Ausrichtung und den Zugang vor der Einheit, was dazu beiträgt, Kontaminationen durch externe Verunreinigungen zu reduzieren. Die Sondenköpfe sind so konzipiert, dass sie einen leistungsstarken und dennoch leisen Betrieb ermöglichen und Wärme und Lärm bei der Datenerfassung minimieren. Die Sonden verfügen über einen unabhängigen Masserücklauf für eine vereinfachte Schildsignalabtastung und eine interne Heizfunktion, die eine hohe Konsistenz mit genauen Messwerten gewährleistet. Die abnehmbaren Probenhandhabungsarme sorgen für schnelles Be- und Entladen von Proben und schaffen eine effiziente Testlösung. Gigaprobe DVT30-1MM bietet außerdem eine automatisierte Kontakterkennung mit vier vom Benutzer wählbaren Kontaktkraftstufen und eine dynamische automatisierte Referenzkontrolle, um sicherzustellen, dass jeder Kontakt ordnungsgemäß getestet wird. Zusätzlich kann die Meßzykluszeit durch eine rückkopplungsbasierte Spannungsgrenzeneinstellung und automatisierte berührungslose Prüfung mit einer Mehrspannungssonde maximiert werden. Insgesamt ist DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM ein innovativer, effizienter und leistungsstarker Prober, der entwickelt wurde, um die härtesten Anforderungen an die Halbleiterprüfung zu erfüllen. Seine fortschrittlichen Funktionen, zuverlässige Leistung und Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung machen es zu einer idealen Wahl für Labors und Halbleiter-Testprofis, die nach einer zuverlässigen und genauen Sondierungslösung suchen.
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