Gebraucht ELECTROGLAS 1034X #114297 zu verkaufen

ELECTROGLAS 1034X Prober ist ein vielseitiger Prober, der präzise Bauteilprüfungen anbietet. Es verfügt über ein 10,4-Zoll-LCD-Farbdisplay, eine 1,5-Mikron-Positionierungsauflösung und eine vollautomatische Ladestation, die zum schnellen Laden und Entladen von bis zu 300-mm-Tastkarten entwickelt wurde. Es ist für Tests mit sowohl hohen Geschwindigkeiten als auch in hohen Produktionsumgebungen konzipiert. 1034X können zum Testen von Geräten mit niedriger und hoher Geschwindigkeit verwendet werden, von analogen und digitalen ICs bis hin zu bleifreien und führungslosen Teilen. Seine Wafer-Handling-Ausrüstung passt Wafer bis zu 8 Zoll Durchmesser und verwendet ein Vakuum-System für Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Der Prober bietet eine einstellbare Z-Achse zwischen 1,5 und 4,5 mm, die unabhängig von Material oder Substratdicke einen gleichmäßigen Kontakt ermöglicht. Beim Testen von Komponenten verwendet ELECTROGLAS 1034X Prober modernste Sondentechnologie, um Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten. Seine einzigartige Mustererkennungseinheit kann verschiedene Teststrukturen und kundenspezifische Rüstzeiten für jeden Test identifizieren. Die beiden automatischen Zuführer behandeln jeweils bis zu 300 Pins und reduzieren die Testzeit durch Überwachung der Testergebnisse und automatisches Vorschieben der Tastkarte. 1034X ist für hohe Produktionsmengen konzipiert und ermöglicht bis zu 250 TESTINDEX-Befehle pro Sekunde - über 400 mal schneller als manuelle Sondierung. Die leistungsstarke Architektur wurde entwickelt, um Tests schnell durchzuführen und Testergebnisse präzise zu liefern. Es ist auch einfach zu bedienen, bietet leicht zugängliche Navigationsfunktionen und integrierte Maschinenkonfigurationen. ELECTROGLAS 1034X Prober ist eine ausgezeichnete Wahl für die Prüfung von Komponenten in hohen Produktionsmengen. Seine modernsten Technologien sorgen für Genauigkeit und Wiederholbarkeit, und seine große Anzeige ermöglicht eine einfache Navigation und Werkzeugkonfiguration. Ob beim Testen von Niedrig- oder Hochgeschwindigkeitsteilen, dieser Prober wurde entwickelt, um zuverlässige und wiederholbare Testergebnisse zu liefern und gleichzeitig die Rüstzeit zu minimieren und die Produktionserträge zu erhöhen.