Gebraucht ELECTROGLAS 2001 #9023681 zu verkaufen

ELECTROGLAS 2001 ist ein high‐performance Halbleiter-Wafer-Prober für den Einsatz in der Fehleranalyse, Prozessentwicklung und Produktionstests. Dieser fortschrittliche Wafer-Prober von ELECTROGLAS kombiniert Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit, um außergewöhnliche Wafer-Handhabungsfunktionen zu bieten. 2001 verfügt über eine Reihe von Merkmalen, die es für den Einsatz in der Halbleiterfehleranalyse und Wafer-Sondierung gut geeignet machen. Der Prober verfügt über ein Sechs-Zoll-Proben-Handling-Gehäuse mit integrierter Vakuum-Wafer-Spannausrüstung für Standard-4- und 6-Zoll-Probensubstrate und kann bis zu zwanzig Wafer gleichzeitig verarbeiten. Darüber hinaus verfügt es über ein XY-Bewegungssystem mit geschlossener Schleife, das ein Hochgeschwindigkeits-Scannen von bis zu 2300 mm/s ermöglicht. Diese erweiterte Funktion, kombiniert mit einer Standard-Auflösung von 0,5 μ m, ermöglicht eine hochgenaue Präzisionssondierung von Wafern. Die ELECTROGLAS 2001 ist ferner mit einer unabhängigen Z-Achsen-Bewegungseinheit mit einem vertikalen Bereich von ± 12 mm für größere Packungen sowie einem 45-Grad-Bewegungsbereich für gekippte Sonden ausgestattet. Es bietet auch die Möglichkeit, bis zu 1000 Rezepte für verschiedene Sondierungsstrategien zu speichern, sowie einen einstellbaren Sondenspalt, um eine höhere Genauigkeit bei der Probensondierung zu ermöglichen. Die fortschrittliche Motorsteuerungsmaschine des Probers bietet auch eine präzise programmierbare Strombegrenzung und Geschwindigkeitsregelung für alle Achsen. 2001 wurde mit fortschrittlichen Sicherheitsmerkmalen wie einem Kollisionserkennungswerkzeug entwickelt, das den Prober automatisch stoppt, wenn er auf ein Hindernis trifft. Darüber hinaus ermöglicht die offene Architektur des Asset eine einfache Aktualisierung und Wartung, was eine verbesserte Zuverlässigkeit und Leistung ermöglicht. Insgesamt ist ELECTROGLAS 2001 ein leistungsfähiger und zuverlässiger Halbleiter-Wafer-Prober, der eine schnelle und genaue Sondierung von Wafer-Proben ermöglicht. Es eignet sich gut für Anwendungen, die eine hochgenaue, schnelle Sondierung erfordern, und eignet sich ideal für Fehleranalysen, Prozessentwicklung und Produktionstests.