Gebraucht ELECTROGLAS 2001 #9282032 zu verkaufen

ELECTROGLAS 2001 ist ein von ELECTROGLAS hergestellter Wafer-Prober. Es ist eine automatisierte, Vision-geführte Platzierungsausrüstung, die eine präzise Sondierung von integrierten Halbleiterschaltungen (ICs) ermöglicht. Das System verfügt über einen Waferlader, einen Waferprober, eine automatisierte X-Y-Koordinateneinheit und ein Vision Subsystem. Der Waferlader hat zwei Roboterarme zum Be- und Entladen von Waferkassetten aus dem Prober. Der Wafer Prober ist in der Lage, Wafergrößen von bis zu acht Zoll Durchmesser zu handhaben und kann mit jedem Zyklus bis zu 200 Waferoberflächen messen. Es verfügt über eine hochpräzise X-Y-Stufe mit einer Reichweite von 800 x 800 Mikrometer und kann mit Geschwindigkeiten bis zu 30.000 Mikrometer/Sekunde arbeiten. Die automatisierte X-Y-Koordinatenmaschine wird verwendet, um die Wafer für die Sondierung auszurichten und kann so programmiert werden, dass Wafer jeder Größe und Form auf der X-Y-Ebene an jeder Position sondiert werden. Das Vision-Subsystem verwendet einen bildverarbeitenden Chip, um die Waferoberfläche während des Waferbetriebs zu erkennen, zu scannen und zu messen. 2001 hat die Fähigkeit, benutzerdefinierte Rezepte zu programmieren und bietet eine Reihe von Funktionen zur Beschleunigung der Testzeit. Es verfügt über einen Barcode-Leser, der in der Lage ist, den Wafertyp zu identifizieren, während seine automatisierte Sortierfunktion schnell erkennen kann, welche Wafer bereits getestet wurden und welche noch getestet werden müssen. Es hat auch die Möglichkeit, eine Reihe von Sondenkarten zu steuern, bis zu drei Sondenkarten gleichzeitig, so dass mehrere und vielseitige Sondenkonfigurationen. Darüber hinaus verfügt es über eine Reihe von Sicherheitsmaßnahmen zur Verbesserung der Genauigkeit, wie ein Mehrpunkt-Kontakterkennungswerkzeug, das externe Objekte oder Aktivitäten am Prober erkennen und das Objekt schnell abschalten kann. All diese Merkmale machen ELECTROGLAS 2001 zu einem effizienten und zuverlässigen Werkzeug für die IC-Sondierung und -Inspektion.