Gebraucht ELECTROGLAS 2001X PPC #9401166 zu verkaufen

ELECTROGLAS 2001X PPC ist ein modernster Wafer-Prober für Halbleiter-Wafer-Test, Sondierung und Materialanalyse. Dieser Prober ist eine fortschrittliche Ausrüstung, die innovative Technologien wie die computergestützte Prozesssteuerung (CAPC) und die Überwachung von Hochfrequenzstörungen (RFI) kombiniert, um zuverlässige und genaue Ergebnisse zu liefern. ELECTROGLAS 2001 X PPC ist mit einer vielseitigen Bühne und einem automatischen Kalibriersystem ausgestattet, das es ermöglicht, den Testwafer genau auszurichten und zu bewegen. Dieser Prober ist in der Lage, hochauflösendes Scannen durchzuführen, wodurch kleine Fehler in der Waferoberfläche präzise und schnell erkannt werden können. Es bietet auch automatisierte Testprogramme und eine breite Palette von Signalintegritätsoptionen, um eine genaue und wiederholbare Sondierung des Wafers zu gewährleisten. 2001X PPC ist einfach zu bedienen und zu warten, mit einer einfachen Benutzeroberfläche, intuitiven Bedienelementen und einer umfassenden Bedienungsanleitung. Mit der mitgelieferten Software kann der Prober vollständig automatisiert werden, wodurch Anwenderfehler beseitigt und konsistente, wiederholbare Ergebnisse erzielt werden. Seine leistungsstarken Sensoren überwachen Oberflächentemperatur und Luftfeuchtigkeit und können RFI-Quellen in der Testumgebung für maximale Genauigkeit erkennen. 2001 X PPC verfügt über PPC-Module (Precision Parallel Port Control), die eine automatisierte Ausrichtung, eine hochpräzise Bewegung und eine präzise Positionierung der Komponenten des Probers ermöglichen. Es enthält auch eine Lasermikrosurfacing-Einheit, die es erlaubt, die Kontaktflächen der Waferoberfläche genau zu erfassen. Darüber hinaus ist der Prober mit einem Kontaktdefektanalysator (CDA) ausgestattet, der es ermöglicht, Fehler in der Waferoberfläche zu identifizieren. Insgesamt ist ELECTROGLAS 2001X PPC eine fortschrittliche, genaue und zuverlässige Probermaschine, die einfach zu warten, zu bedienen und zu steuern ist. Mit seiner Spitzentechnologie ermöglicht der Prober die schnelle und genaue Analyse von Halbleiter-Waferoberflächen und die Erkennung auch kleiner Defekte.