Gebraucht ELECTROGLAS 2001XA #9170435 zu verkaufen

ELECTROGLAS 2001XA Prober ist ein fortschrittliches Halbleiter-Wafer-Sondierungsgerät, das bis zu 300mm Halbleiterscheiben sondieren kann. Basierend auf der robusten 2001X-Plattform umfasst 2001XA erweiterte Diagnose-, Software- und Sondierungsfunktionen und ist damit eine ideale Wahl für Chiphersteller, die mit kleineren Wafern und höheren Stanzzahlen zu tun haben. ELECTROGLAS 2001XA verfügt sowohl über einen elektrischen als auch einen physikalischen Prüfarm, so dass Benutzer einzelne Werkzeuge auf dem Wafer genau positionieren und kontaktieren können, bevor sie elektrische Messungen auslösen. Das fortschrittliche Design von 2001XA ermöglicht außerdem die Verwendung von zwei Arten von Sonden - kontaktlos und berührungslos. Kontaktsondierung ermöglicht die Analyse der physikalischen Eigenschaften der Matrize, wie Düsendicke, durch die Verwendung von spezialisierten Sonden. Die berührungslose Sondierung ermöglicht eine elektrische Charakterisierung des Waferschaltkreises. ELECTROGLAS 2001XA Prober bietet die branchenweit führende Wiederholbarkeit und Genauigkeit bei der Sondierung großer Wafer. Es ist auch für Skalierbarkeit und Benutzerfreundlichkeit konzipiert und gebaut. Die Probe Control Software (PCS) von 2001XA ermöglicht es Benutzern, schnell zwischen Wafern und Formgrößen zu wechseln und die Kontrolle über den Sondierungsprozess selbst zu behalten. ELECTROGLAS 2001XA ist auch mit 2001XA-U Vacuum Chucking System kompatibel und ermöglicht einen direkten Vakuumkontakt des Wafers während des Sondierungsprozesses. Dies reduziert die Wahrscheinlichkeit eines Waferbruchs während des Sondierungsprozesses und sorgt für qualitativ hochwertigere Ergebnisse. ELECTROGLAS 2001XA verfügt über eine breite Palette von diagnostischen Fähigkeiten. Die fortschrittliche Mixed-Signal-Diagnose brachte es auf ein höheres Niveau von den meisten anderen Probern. Der transiente Hochgeschwindigkeitsspeicher des Geräts ermöglicht die Analyse von über 11 Millionen transienten Proben pro Wafer. Das optische Reflektometrie-KE erkennt die Oberflächentopologie sowohl in 2D als auch in 3D und bietet eine bessere Kontakttreue. Die fortschrittlichen Algorithmen von 2001XA erkennen auch eine Fehlanpassung der Parameter von der Matrize zur Matrize und die Leistung der Schaltung auf Waferebene. Zusammenfassend ist ELECTROGLAS 2001XA Prober eine fortschrittliche Maschine zum Testen und Sondieren von Halbleiterscheiben. Es bietet erweiterte Funktionen und integrierte Diagnosen. Es hat auch eine ausgezeichnete Skalierbarkeit und ist für Benutzerfreundlichkeit konzipiert.