Gebraucht ELECTROGLAS 2010X #132668 zu verkaufen

ELECTROGLAS 2010X ist ein Prober, der in der Halbleitertechnik und Fertigungsprüfung verwendet wird. Es ist ein automatischer Kontakttestprober, der bei der Herstellung von integrierten Schaltungen, Wafern, Geräten, RTD (Radiation Treatment Die) und einer Vielzahl anderer Prüfverfahren verwendet wird. Dieser Prober ist so konzipiert, dass er höhere Durchsatzraten bei präziser Abtastgenauigkeit ermöglicht. 2010X verfügt über einen freitragenden Prüfkopf, der es ermöglicht, während der Prüfung weniger Kraft einzusetzen, was die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Kontakttestergebnisse erhöht. Der Prober verfügt auch über eine intuitive benutzerfreundliche Oberfläche, bestehend aus einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI), Tasten, Drehschaltern und Jog-Rädern, mit denen der Benutzer den Prober einfach steuern kann. Die GUI verfügt über eine Bibliothek mit gespeicherten Testmustern, bietet eine Vielzahl von Funktionen wie Bildgebungsfunktionen und Echtzeitüberwachung der Testergebnisse. Dieser Prober verfügt über Dual-Frequency-DC-parametrische Messfunktionen, die Anwendern die Möglichkeit bieten, zuverlässige DC-Tests durchzuführen. Es ist auch mit LoFES ausgestattet, ein niederfrequentes elektrisches Testsystem, das verwendet werden kann, um Fehler in Low-State-Bedingungen zu erkennen. Zusätzlich gibt es eine Vier-Kanal-Einpin-Fahrtestfunktion, mit der Benutzer komplexe Testszenarien durchführen können, bei denen mehrere Pins mit demselben Testkopf vernetzt werden müssen. ELECTROGLAS 2010X ist PEC (Probing Equipment Check) und SMART (Self-Monitoring and Reporting Technology) konform, so dass Benutzer die Testergebnisse leicht überwachen können, um sicherzustellen, dass sie innerhalb bestimmter Parameter liegen. Es verfügt über integrierte Temperaturregelungsfunktionen sowie ein mehrsprachiges Kontrolldisplay, das je nach Benutzeranforderungen einfach programmiert werden kann. Der Prober hat ein robustes Design mit einem schweren Stahl- und Aluminiumrahmen, der hilft, seine Haltbarkeit zu erhöhen und seine Lebensdauer zu verlängern. Dieser Prober hat auch ein Verfahren zur Reduzierung von elektrostatischen Entladungsereignissen (ESD) und eine Reihe hochwertiger aktiver und passiver Komponenten, die alle dazu dienen, das Gerät vor möglichen Schäden, Kontaminationen oder Leistungsverlusten zu schützen. Insgesamt ist 2010X ein äußerst zuverlässiger, hochgenauer und funktionsreicher Prober, der sich ideal für die Durchführung hoher Durchsatz- und komplizierter Kontakttests in der Halbleiterindustrie eignet. Mit seiner überlegenen Genauigkeit und Zuverlässigkeit ist es eine gute Wahl für alle, die zuverlässige Testergebnisse und hohe Produktionserträge benötigen.