Gebraucht ELECTROGLAS 3001X #9201995 zu verkaufen

ELECTROGLAS 3001X ist ein Prober, der entwickelt wurde, um den Prozess der elektrischen Prüfung auf Halbleiterdüsen und -bauelementen zu automatisieren. Es wird für die Wafer-Sondierung in Verbindung mit Bildverarbeitungssystemen zur Charakterisierung und Prüfung verwendet. 3001X ist eine vollautomatisierte Plattform, die auf einer modularen und erweiterbaren Architektur aufgebaut ist. Es bietet Präzisionsbewegungssteuerung und Genauigkeit für Feinteilungssondierung und hat ein niedriges thermisches Profil für Hochgeschwindigkeits-Scannen. ELECTROGLAS 3001X prober wurde entwickelt, um höchste Leistung und überlegene Leistungsfähigkeit zu bieten, gepaart mit innovativen und flexiblen Designmerkmalen. 3001X, die mit Standardfunktionen wie zweidimensionaler Bewegung, doppeltem Probenaustausch und automatisierter visionsgesteuerter Feeder-Beladung ausgestattet sind. Es bietet eine hohe Automatisierung für Wafertests, Halbleiterdüsentest und vollständige Datenverwaltung. ELECTROGLAS 3001X arbeitet mit automatisierten Wafer-Testsystemen wie IBMs iProbe Cobasys und California Instruments TPA2 zusammen. Darüber hinaus kann der Prober mit allen kundenspezifischen Bildverarbeitungssystemen arbeiten. 3001X soll die Testkosten senken und die Testeffizienz steigern. Seine modulare Architektur erleichtert die Entwicklung von Wafer-Sondierungsstandards. Der Prober bietet erhebliche Kosteneinsparungen und minimiert die Bearbeitungszeit während des gesamten Sondierungsprozesses durch Erhöhung des Produktionsdurchsatzes. Es kann bidirektionales, panoramisches und lückenloses Scannen für den automatisierten Test jeder Kontaktstelle bereitstellen. Der Prober bietet Probenkapazität von bis zu 33 Wafern und verfügt über eine Stellfläche, die für die elektrische Testsystemausnutzung optimiert ist. ELECTROGLAS 3001X ist auch mit GEM konzipiert, einem Betriebssystem mit grafischer Benutzeroberfläche (GUI). Mit dieser GUI können einfache Befehlszeilen, Fehlrichtungskorrekturen und Rückmeldungen für die Prozesssteuerung ausgeführt werden. Mit der GUI können Benutzer intuitiv und einfach Testprogrammformate definieren. Der Prober ist auch für hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Auflösung von bis zu zwei Nanometern ausgelegt. Darüber hinaus können 3001X mehrere elektrische Sonden Design mit Präzision aufnehmen. Es verfügt über eine schwingungsisolierte SMA Mover-Konstruktion, die mechanische Steifigkeit und Auflösungsleistung bietet, sowie eine robuste schräg-freie Mover-Konstruktion für verbesserten vertikalen Antrieb und Z-Achsen-Stoßschutz. Schließlich kommt ELECTROGLAS 3001X mit umfassender Unterstützung, die einen Upgrade-Pfad, Remote-Service, Online-Dienste und Service-Netzwerk umfasst. Darüber hinaus bietet es umfassende Unterstützung für Anwendungen im Werkzeughandling, in der Wafersortierung, in der Gerätecharakterisierung und in der automatisierten Prüfung. 3001X ist ideal für Halbleiterbauelemente und Prozessentwicklung und -produktion, da es fortschrittliche Sondierungstechnologie mit beispielloser Leistung und Flexibilität bietet.