Gebraucht ELECTROGLAS 3001X #9216751 zu verkaufen

ELECTROGLAS 3001X prober ist ein Mehrzweck-Wafer-Prober, der für eine Vielzahl von Prüfanforderungen entwickelt wurde. Es verfügt über ein 28-Steckplatz DUT-Board, mehrere Laser-Level-Ausrichtungssysteme, Multi-Board-Test-Optimierung und maximierten Durchsatz. Mit einem gesamten Hubbereich von 160 mm und einer maximalen Probengröße von 50 mm bietet 3001X Prober eine maximale Testabdeckung auf unterschiedlichsten Substraten und Wafergrößen. Der Prober verfügt über ein fortschrittliches softwaregesteuertes Bewegungssteuerungssystem für präzise und wiederholbare Operationen. Ein fortgeschrittenes Wafer-Handling-System stellt sicher, dass die richtige Kraft beim Kontaktieren der Geräte auf dem Wafer verwendet wird. Der Prober ist mit Standardsonden und kundenspezifischen Sonden für spezifische Anwendungen ausgestattet. Zur Sondierung von bis zu 100 Sonden auf einer DUT-Platine kann eine akustische oder mechanische Sonde verwendet werden. ELECTROGLAS 3001X prober bietet verschiedene Testoptionen und Messmöglichkeiten. Das Embedded Automated Test System (ATS) bietet Diagnose- und Fehlerdatenanalyseoptionen. Der Prober ist in der Lage, von DC bis > 20GHz zu messen, und kann verschiedene Anwendungen bereitstellen, einschließlich Breitband, Schmalband und Breitband + IF. Optionale Boards ermöglichen es dem Benutzer, die Funktionalität zu erweitern, um bis zu 16-Bit-analoge und digitale Leistungsmessgrößen zu messen. 3001X prober bietet auch komplette mechanische Entgewicht Testlösungen. Der Prober beinhaltet Hardware und Software, die für mechanische Entgewicht-Wafer entwickelt wurden, was zu einer verbesserten Waferausbeute und Zuverlässigkeit führt. ELECTROGLAS 3001X prober ist eine perfekte Wahl für großvolumige Fertigungs- und Testanwendungen. Es ist einfach zu bedienen, bietet hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit und kann für eine Vielzahl von Testszenarien verwendet werden. Seine überlegene Leistung und zuverlässige Bedienung machen es zu einer wertvollen Ergänzung zu jeder Testumgebung.