Gebraucht ELECTROGLAS 3100X #9248180 zu verkaufen

ELECTROGLAS 3100X prober ist eine hochentwickelte Wafer-Sondierungsausrüstung, die entwickelt wurde, um fortschrittliche Halbleitergerätetests und -entwicklungen zu unterstützen. 3100X bietet hohe Genauigkeit und Hochgeschwindigkeitstests für komplexe Produkte wie Hochgeschwindigkeits-DRAMs, Prozessoren und ASICs. Das System basiert auf ELEKTROGLAS schnelle und zuverlässige XYZZ Probe Motion Unit, die zuverlässige Positionsgenauigkeit und kurze Testzeiten. ELECTROGLAS 3100X wurde entwickelt, um zuverlässige und wiederholbare Testergebnisse zu liefern, indem die neuesten Fortschritte in der Wafer-Level-Testtechnologie und Automatisierung berücksichtigt werden. Die Maschine ermöglicht zuverlässige Tests durch seine fortschrittlichen elektrischen Wafer-Level-Tests einschließlich Strom, Kapazität und ACIV-Tests, sowie seine einzigartige Winkelsondierungsfähigkeit. 3100X ermöglicht eine schnelle und genaue Prüfung von Speicher, Mikroprozessoren, ASICs und anderen integrierten Schaltkreisen. ELECTROGLAS 3100X verfügt über einen Wafer-Positionierer, der eine genaue und wiederholbare Testpositionierung von Waferpartien und eine zuverlässige Waferbelastung ermöglicht. Das Tool unterstützt auch erweiterte Waferbeleuchtung für optimale Sichtbarkeit. Darüber hinaus verfügt 3100X über eine leistungsstarke Software zur Minimierung von Photonenschuss-Rauschen, wodurch die Genauigkeit und Wiederholbarkeit während der Tests verbessert wird. Darüber hinaus unterstützt die Anlage Niederdruck-Tasterkontakt, so dass kleine Tasterkräfte eingehalten werden. Dies minimiert die Auswirkungen der dielektrischen Hysterese und maximiert die Kontaktlebensdauer. Dies ermöglicht eine wiederholbare und genaue Prüfung aller Arten von Halbleiterbauelementen. Das Modell bietet auch hohe Durchsatz und hohe Genauigkeit Prüfung, dank seiner integrierten Motion Control-Modul und hochauflösende Wafer Sonde Ausrüstung. ELECTROGLAS 3100X verfügt über einen erweiterten Sondenbereich für den Betrieb über große Waferpartien. Das System bietet auch eine zuverlässige Datenerfassung für alle Arten von Wafertests. Darüber hinaus bietet 3100X fortschrittliche Wafer- und IC-Diagnosen für eine verbesserte Produktqualität. Schließlich wird ELECTROGLAS 3100X durch elektrochemische und MEMS-Messtechnik für umfassende Wafer- und IC-Tests unterstützt. Mit seiner hohen Genauigkeit und überlegenen Geschwindigkeit ist 3100X ideal für die Untersuchung komplexer Halbleiterbauelemente für Entwicklung, Test und Produktion.