Gebraucht ELECTROGLAS 4080X #9173964 zu verkaufen
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ID: 9173964
Wafer prober system
EG Commander software
GP-PZ 7 0.25 Z drive assembly
Ring carrier, RC-2
CPCS
Self teach auto alignment (STAA)
Probe mark inspection
Automatic probe to pad alignment
Probe to pad optimization
TC 2000 Controller and chuck top
Ambient to 130
Capacitive profiler
PT Burnisher.
ELECTROGLAS 4080X Prober ist ein fortschrittlicher, hochgenauer Wafer-Prober, der von Electro-Gals, Inc. Diese anspruchsvolle Ausrüstung ist in der Lage, präzise, wiederholbare Tests und Messungen auf einer Vielzahl von miteinander verbundenen Gerätesubstraten und -proben durchzuführen. Der leistungsstarke, modulare Aufbau von 4080X Prober ermöglicht es Anwendern, das System je nach Bedarf einfach zu konfigurieren und feinabzustimmen. Die hochentwickelte Proberstabilisierungseinheit bietet jederzeit zuverlässige und genaue Messwerte. Die Hochgeschwindigkeits-dreidimensionale Sondiermaschine bietet eine fortschrittliche Maßgenauigkeit über den gesamten Messbereich und kann Wafergrößen von 6 „bis 12“ aufnehmen. Das Werkzeug verwendet einen elektrostatischen Kantenlebensdauermechanismus, der entwickelt wurde, um feine Wafer-Bewegungsprozesse optimal durchzuführen. Dies ist eine speziell entwickelte modulare Plattform, die mit einem fortschrittlichen digitalen Feedback-Asset für genaue Kalibrierung und Messung ausgestattet ist. Es kann Geräte mit Geschwindigkeiten bis zu 25 μ m/s messen und ist in der Lage, Geräte bis zu 50 μ m Dicke zu messen. Das fortschrittliche vertikale Positionierungsmodell ermöglicht es Benutzern, die Sonden und Geräteproben präzise zu positionieren. Der Prober verfügt über einstellbare Probenhalter und präzise Waferausrichtung und -registrierung. Es ist in der Lage, die Positioniergenauigkeit von 0,05 μ m zu überschreiten und kann mit einer softwaregesteuerten Abhebehöhenverstellung ausgestattet werden. ELECTROGLAS 4080X enthält auch eine fortschrittliche Wafer-Greifer-Ausrüstung, die hohe Vakuumniveaus beibehält und eine genaue Positionierung des Wafers auf der Prober-Oberfläche gewährleistet. Dies gewährleistet einen zuverlässigen Kontakt und eine genaue Messung der elektrischen Eigenschaften der Probe. Insgesamt ist 4080X Prober ein fortschrittlicher Prober, der zuverlässige und genaue Messungen und Tests einer Vielzahl von Gerätesubstraten und -proben anbietet. Die robuste, modulare Bauweise und das leistungsstarke Positionierungssystem bieten Anwendern die ultimativen, präzisen, wiederholbaren Messungen in einem hocheffizienten und kostengünstigen Paket.
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