Gebraucht ELECTROGLAS 4085 #9400275 zu verkaufen
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ID: 9400275
Prober
Chuck material: Ni
Chuck type: Ambient
Z-Resolution: 0.25 mil
No flat panel display
Options:
OCR
Tester interface: GPIB
Ethernet interface
No PTPA
No PTPO
No PMI
No IDI
No STAA
No WSSC
No APCC.
ELECTROGLAS 4085 ist ein automatisierter Wafer-Prober, der von ELECTROGLAS entwickelt und hergestellt wurde. Sie wird typischerweise in der Halbleiterindustrie zur Vereinzelung sowie zur Prüfung und Messung integrierter Schaltungen und blanker Matrizen vor, während und nach Verpackungsstufen eingesetzt. 4085 verfügt über eine kreisförmige Sondenkarte mit einem 360 ° -Drehkopf und einem thermischen Spannfutter, das von -20 ° C bis + 200 ° C arbeiten kann. Es hat auch einen vielseitigen Indexiermechanismus, der einfache Werkzeugwechsel für mehrschichtige Substrate ermöglicht. Der hochgenaue und wiederholbare Antriebsmotor ist mit einer Genauigkeit von mindestens 10 Mikrometern indexierbar. Der Prober ist in der Lage, Standardwafergrößen von 200mm bis 300mm zu messen, wodurch eine Vielzahl von Geräten getestet werden können. ELECTROGLAS 4085 ist mit einer „Reinraum“ -konformen Umgebung konzipiert, die den Schutz von hochwertigen Produkten und Strukturen gewährleistet und somit ideal für hochsensible Prozesse geeignet ist. Das Produkt ist außerdem mit einem fortschrittlichen Sichtsystem ausgestattet, das eine automatische Ausrichtung des zu testenden Geräts durch Vergleich der Form des Geräts mit einem Referenzbild ermöglicht. Für verbesserte Benutzerfreundlichkeit und Durchsatz unterstützt 4085 prober einen umfassenden Satz von Druck- und Scanfunktionen. Um das zu prüfende Gerät physisch zu kontaktieren, verwendet ELECTROGLAS 4085 eine federbelastete elektrische Sonde, die eine Prüfung einer Vielzahl von Kontaktpads ermöglicht. Von Bändern über Stifte, ULT-Sonden bis hin zu GP-Sonden können auch verschiedene Nadelgrößen verwendet werden. Schließlich sorgt eine überlegene Scangeschwindigkeit von bis zu 10.000 Punkten pro Sekunde für zuverlässige und präzise Tests. 4085 automatisierter Prober ist eine ideale Lösung für Serientests in allen Stufen der Halbleiterherstellung, mit der verschiedene Arten von integrierten Schaltungen, einschließlich C4, BGA und Flip Chip, mit höherer Genauigkeit und Wiederholbarkeit getestet werden können. Seine vielfältigen Fähigkeiten, kombiniert mit seinem flexiblen modularen Design, machen es zu einer idealen Wahl für Anwender mit hohem Volumen, die zuverlässige und wiederholbare Testprozesse suchen.
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