Gebraucht ELECTROGLAS 4090 #9231745 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS
Modell
4090
ID: 9231745
Wafergröße: 8"
Prober, 8".
ELECTROGLAS 4090 prober ist ein fortschrittliches Wafer-Sondierungsgerät, das automatisierte Wafer-Handhabung und Tests bei der Herstellung integrierter Schaltungen (ICs) anbietet. Es wurde entwickelt, um präzise Messungen der kontaktierenden elektrischen Eigenschaften und der geometrischen Parameter der Vorrichtung mit hoher Genauigkeit und ausgezeichneter Wiederholbarkeit bereitzustellen. 4090 basiert auf einer Single-Carrier Electrostatic Force Microscopy (EFM) Technologie, die ein Netz von Sonden verwendet, um winzige elektrische Kräfte zu messen. Das System ist vollautomatisiert und so konzipiert, dass es eine Vielzahl von geometrischen Proben, einschließlich Kontaktchips, Transistoren und Durchsilizium-Vias (TSVLs), zuverlässig messen kann. Der Prober ist mit jedem manuellen oder Mikromanipulator oder Prober-Scan-Kopf mit einem Field-programmable Gate Array (FPGA) kompatibel. Diese leistungsstarke Funktion ermöglicht es dem Gerät, die kleinen Spannungsänderungen eines einzelnen Kontakts an einem Gerät genau zu erkennen. Zum Beispiel kann es einige Milliampere Stromaustritt in hochzuverlässigen Geräten so klein wie ein Milometer erkennen. ELECTROGLAS 4090 prober ist mit einer ganzen Reihe von Präzisionspositioniergeräten und anspruchsvollen Controllern ausgestattet. Die Maschine kann programmiert werden, um verschiedene Messtechniken in Abhängigkeit von den zu messenden Eigenschaften auszuwählen. Es hat auch eine benutzerdefinierte Scan-Option, die die Erfassung von Daten von jedem beliebigen Punkt von Interesse bei flexiblen Geschwindigkeiten ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Tool über ein hochauflösendes Laser-Interferometer für präzises Scannen mit engen Toleranzen. Es enthält auch eine Luftlagerstufe, um eine reibungslose Bewegung bei schneller und genauer Ausrichtung zu gewährleisten. Das Asset unterstützt eine Vielzahl fortschrittlicher Softwarefunktionen wie mehrdimensionale Ausrichtung, Testzeitoptimierung, Analyse kritischer Parameter und Sondenpositionierung, so dass es für Wafer-Tests und Prototyping geeignet ist. 4090 bietet auch eine breite Palette von erweiterten Messfähigkeiten wie elektrische Kontakteigenschaften, Kontaktwinkelmesstechnik, Verschmutzungsprüfung und Nanomanipulation. Es verfügt über eine spezielle Umweltkammer, die Temperatur und Feuchtigkeit regulieren kann, um die Lebensdauer der Optik und Kontaktpads des Probers zu verlängern. ELECTROGLAS 4090 prober wurde entwickelt, um die hohen Anforderungen der heutigen integrierten Schaltungsfertigungslinien zu erfüllen. Seine hochpräzisen Messfähigkeiten, effiziente Automatisierungsfunktionen und innovative Software ermöglichen es, die Wafer-Testzeit zu reduzieren und den Durchsatz zu erhöhen.
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