Gebraucht ELECTROGLAS 4090 #9233875 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4090 ist ein Prober, der entwickelt wurde, um eine erweiterte Kontrolle und Genauigkeit bei der Halbleiterwafer-Sondierung bereitzustellen. Dieser Prober eignet sich für parallele Hochgeschwindigkeitsprüfungen und wird standardmäßig mit sicheren Höhenverstell-, Laserausrichtungs- und Berührungssondenfunktionen geliefert. Die sichere Höhenverstellung von 4090 nutzt fortschrittliche Luftlagertechnologie mit vom Benutzer einstellbarem Luftdruck. Dies bietet eine verbesserte Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit gegenüber Kontaktprobern. Darüber hinaus vereinfacht es die Anpassung und Wartung sowie reduziert die Auswirkungen von Umgebungsvibrationen auf die Messungen. Der Prober verfügt auch über eine Laserausrichtung, die eine höhere Genauigkeit und Wiederholbarkeit als herkömmliche mechanische Methoden bietet. Das System besteht aus einem zweiachsigen Laserinterferometer und zwei integrierten Positionierstufen. Es kann Probe-zu-Wafer-Abstände bis zu 5 Mikrometer genau messen, was eine engere Toleranz auf Testfehlern ermöglicht. ELECTROGLAS 4090 verfügt über eine integrierte Touch-Sondeneinheit, die automatisierte Messungen an Mustern oder Merkmalen ermöglicht. Es ist mit einem fünfachsigen Regelkreis, einer erweiterten programmierbaren Steuerung, einer Berührungssonde und einer automatischen Be- und Entlademaschine ausgestattet. Der Prober verfügt auch über eine Reihe von Zubehör, um seine Verwendung weiter anzupassen. Dazu gehören ein EDGE™ Markenhöhenmessgerät, eine Kantenerkennungsbibliothek, ein Lötdickenscanner und ein Staubsauger. Diese Funktionen bieten eine erhöhte Genauigkeit und Effizienz in einer Vielzahl von Wafer-Sondierungstests. Zusammenfassend ist 4090 ein Hochleistungsprober, der für automatisierte Tests entwickelt wurde. Es ist für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet und bietet Anwendern den Vorteil einer sicheren Höhenverstellung, Laserausrichtung und Tastfunktionen. Mit einem umfassenden Set an Zubehör und fortschrittlicher Technologie ist dieser Prober in der Lage, höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Halbleiter-Wafer-Sondierung zu erreichen.