Gebraucht ELECTROGLAS EDS #9316793 zu verkaufen

ELECTROGLAS EDS prober ist ein hochentwickeltes, hochpräzises Gerät zur Messung und Diagnose von Halbleiterbauelementen. Diese halbautomatische Ausrüstung wurde entwickelt, um die Geschwindigkeit und Genauigkeit der Messungen kritischer Geräteparameter zu erhöhen. Es misst eine breite Palette von Gerätetypen, einschließlich CMOS und bipolare Geräte, mit Fokus auf Bereiche wie Kreuzungskapazität, Kapazität-Spannung, Transkonduktanz und Oberflächenwiderstand. Das System besteht aus mehreren voneinander abhängigen Komponenten, einschließlich Maschinensteuerung, Testeinheit und Datenerfassung. Die Maschinensteuerung ermöglicht es dem Bediener, Messungen und Kalibrierungen durchzuführen, die Bewegung von Proberarm und X-Y-Tisch zu steuern und sicherzustellen, dass das Gerät richtig positioniert und fest gehalten wird. Die Prüfmaschine ist für die Bereitstellung der elektrischen Vorspannung und der Messsignale verantwortlich, und die Datenerfassung dient dazu, die Ergebnisse zu verarbeiten und im Speicher zu speichern. EDS prober nutzt erweiterte Scanfunktionen, um die Messgenauigkeit zu verbessern und die Optimierung des Gerätesondierungsprozesses zu ermöglichen. Dies geschieht durch den Einsatz einer präzisen Motor- und Servosteuerung, um das Gerät an vielen verschiedenen Stellen seiner Oberfläche genau zu scannen und zu messen. Dieser Scanvorgang ermöglicht es dem Tool, die Out-of-Specification-Punkte schnell und präzise zu ermitteln und den Debugging-Prozess des Geräts zu beschleunigen. Diese Anlage ist für den Betrieb in einem Reinraum konzipiert; die Wände und der Boden sind mit einer einstellbaren Isolierung ausgekleidet, um ein minimales elektrisches Geräusch zu gewährleisten. Der Prober selbst wurde speziell entwickelt, um elektrostatische Störungen zu reduzieren und sehr genaue Ergebnisse zu liefern. Insgesamt ist ELECTROGLAS EDS prober ein robustes und zuverlässiges Werkzeug für die Prüfung von Halbleiterbauelementen. Es liefert hochpräzise Ergebnisse, mit umsichtigem Scannen für Genauigkeit und Zuverlässigkeit und eingebauten Schutz vor elektrostatischen Störungen. Mit seinen verschiedenen Komponenten ist es gut geeignet, die Quelle eines Gerätefehlers schnell und genau zu identifizieren. Es ist klar, dass dieser Prober eine ausgezeichnete Wahl für alle Prüfanforderungen für Halbleiterbauelemente ist.