Gebraucht ELECTROGLAS / EG 1034XA-6 #201048 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 1034XA-6 ist ein hochpräziser Prober, der den Anforderungen der Halbleiterprüfung gerecht wird. Dieses Gerät ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, die auf die Erhöhung der Prüfgenauigkeit und Wiederholbarkeit ausgerichtet sind. EG 1034XA6 ist in der Lage, eine präzise Sondierung bis zu 150 µm mit hochauflösender elektrostatischer Konformität und liefert Geschwindigkeiten von bis zu 10kHz. Darüber hinaus unterstützt der Prober eine Reihe von manuellen und automatisierten Sondenkartenein- und -entfernungsfunktionen. Seine fortschrittliche Automatisierung ermöglicht die Verwendung mehrerer Stapel unterschiedlicher Größe Prüfkarten, so dass die Flexibilität, um unzählige Testanforderungen zu erfüllen. Die Programmierung wird durch die einzigartige Kombination von grafischen Benutzeroberflächen und umfassenden Programmierbibliotheken von ELECTROGLAS 1034X-A6 vereinfacht. Es ist auch mit einer Reihe von anwenderwählbaren Sicht- und Beleuchtungsoptionen ausgestattet und bietet eine optimale Sichtbarkeit des Testgeländes. EG 1034X-A6 ist für maximale Stabilität und Präzision mit Doppelstockkonfiguration, verstärkter Graphitplatte hoher Dichte und einer automatisierten X/Y/ θ motorisierten Bühne mit einem Höhenbereich von 6 Millimetern bis 12 Millimetern ausgelegt. Es beinhaltet auch eine präzise Ausrichtung-auf-Ziel-Fähigkeit, um bei der genauen Ausrichtung der Spitze auf die Teststelle zu helfen. Zum Schutz vor Verunreinigungen ist der Prober mit einem Hochleistungs-Ionisations- und Filtrationssystem ausgestattet. Darüber hinaus verfügt es über eine intuitiv gestaltete ergonomische Bedienstation und einen Fußschalter, um den Komfort zu verbessern und die Ermüdung des Bedieners zu minimieren. Optional können EG- 1034XA-6 mit der erforderlichen Systemleistung, Steuerung und Kommunikationselektronik ausgestattet werden, wodurch Installations- und Rüstzeiten reduziert werden. Damit ist der Prober eine ideale Wahl für Anwendungen wie Hochgeschwindigkeits-Wafer-Sortierung und Final-Test Burn-in.