Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001CX #9172345 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001CX
ID: 9172345
Wafergröße: 8"
Wafer prober, 8" Disk based Gold plated chuck, 6" OLYMPUS SZ30 Microscope Eyepieces: GSWH 20x / 12.5 MELLES GRIOT Laser Configured for: Automatic wafer load Automatic wafer alignment Automatic wafer measurement Automatic wafer test / sort.
ELECTROGLAS/EG 2001CX Prober ist eine computergesteuerte Prüf- und Messeinrichtung zur elektrischen Prüfung von hochtechnologischen Halbleiterbauelementproben. Es ist mit einem Satz Sonden ausgestattet, von denen jeder mit einer der Buchsen/Steckverbinder/Pins des zu prüfenden Geräts verbunden ist. Die Sondierung kann automatisch entsprechend den Parametern und physikalischen Anforderungen des jeweiligen Geräts konfiguriert und angepasst werden. Das System ist in der Lage, Wafer-Sondierung, Proben Sondierung, große Geräte Sondierung, Hochtemperatur-Sondierung, analoge Messungen und parallele und serielle Datenübertragung durchzuführen. Das Gerät ist in der Lage, Daten mit einer maximalen Geschwindigkeit von 15 Millionen Proben/Sekunde zu sammeln und zu analysieren und kann bis zu 16 Millionen Parameter gleichzeitig übertragen. Die digitalen Ein-/Ausgangskanäle des Prober weisen programmierbare Logikschaltungen hoher Bandbreite (SPS) auf. Diese dienen zur Steuerung der Sondierungssequenz und können leicht eingestellt werden, um eine höhere Geschwindigkeit und Genauigkeit zu gewährleisten. Die Verstärkerschaltung des Treibers verstärkt Eingangssignale und optimiert die Abtastleistung und Genauigkeit. Die eingebaute Treiberschaltung kann eine Vielzahl von Geräten und Spannungen erkennen und verarbeiten. Die benutzerfreundliche Touch-basierte Oberfläche, ausgestattet mit einem 16-Zoll-LCD-Display, ermöglicht eine reibungslose und intuitive Bedienung. Das Gerät enthält fortschrittliche Test- und Messsoftware, die extrem intuitiv und einfach zu bedienen ist. Die Daten lassen sich einfach in verschiedenen Diagrammen und Plots betrachten, verarbeiten und analysieren. Die Software bietet verschiedene Test- und Analysetools und Voreinstellungen, die den Sondierungsprozess schnell und effizient machen. Die Software kann auch in verschiedenen Hardwareformaten (VME, PCI, etc.) lesen/schreiben. Die Einheit ist auch mit Relaiskarten ausgestattet, die eine mechanische und elektrische Umschaltung ermöglichen, um Sonden gleichzeitig zu steuern und zu schalten. Es verfügt über eine ausgezeichnete Temperaturstabilität und eine robuste innere Maschinenstruktur, die eine stabile, präzise und wiederholbare Prüfung mit minimalem Fehler oder Degradation ermöglicht. Das Instrument verfügt über vollständige Sicherheitszertifizierungen, einschließlich GFCIs und EMV-Zertifizierung. Sein Hochleistungs- und Vollmetallgehäuse sowie die berührungsempfindlichen Bedientasten sorgen für Zuverlässigkeit und Langlebigkeit. Der Prober ist ein ideales Werkzeug für die elektrische Prüfung von Halbleiterkomponenten, ICs und Boardtests und liefert unübertroffene Ergebnisse in schnellen und präzisen Tests.
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