Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001CX #9260446 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001CX ist ein computergesteuerter Wafer-Prober zur Inspektion und Prüfung von hochpräzisen elektronischen und photonischen Bauelementen durch Sondierungsoperationen. Es hat eine keramische Basis und ein offenes Design für maximale Zugänglichkeit. Das Gerät unterstützt die Verwendung mehrerer Kopfkonfigurationen und verfügt über eine 30-positionierte Kalibrierungsplatine, um die Flexibilität für das Testhandling zu maximieren. Die Proberbasis ist so konzipiert, dass sie sich bewegen und neigen kann, um verschiedene Arten von Testgeräten unterzubringen. Dies ermöglicht den Zugriff auf größere Testgeräte, bis zu 2450 x 1150mm, mit unterschiedlichen Höhenstufen. Es verfügt auch über einen einstellbaren Neigungsbereich von + 5 ° bis -20 °, um größere Geräte unterzubringen. Darüber hinaus verfügt das 2001CDX über einen Touchscreen mit grafischer Benutzeroberfläche und ein lineares Positioniersystem mit einer Reichweite von +/- 50mm. Dies bietet eine Reihe von hochgenauen Bewegungen auf der x-, y- und z-Achse. Das Gerät ist in der Lage, Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 300mm zu handhaben. Es verfügt über eine automatisierte Wafer-Lademaschine, die automatisches Ausrichten, Entladen und Rückseitensondieren von Wafern ermöglicht. Dieses Tool bietet auch einen „Teach“ -Modus, mit dem Benutzer das Asset an ihre spezifischen Produktionsanforderungen anpassen können. Das 2001CDX verfügt auch über ein fortschrittliches optisches Zentriermodell, das außermittige Zentrierungsschemata mit einem Bereich von 0,1 mm bis 1 mm bietet. Das 2001CDX ist mit Wafer Manager I/O (WMIO) -Technologie für automatisierte Wafer-Scheduling und -Tracking ausgestattet. Diese Technologie bietet eine Online-Ausstattung von Bestands-, Historie- und Prozesskontrollinteraktionen. Dieses System bietet auch einen sicheren Zugriff auf den Gerätecontroller und beinhaltet eine integrierte Website für Remote-Operationen über den Webbrowser. Der Prober ist in der Lage, Mehrkopfkonfigurationen vorzunehmen, die zwei Köpfe für die Kantensondierung, einen Kopf für die Durchgangswafer-Sondierung, einen Kopf für die elektrische Kontaktsondierung, einen Kopf für die Mikropositionierung und einige andere Spezialfunktionen umfassen. Die Maschine kann auch eine Vielfalt des Testzubehörs wie Optik anpassen, Stadien, Hochleistungsdatenerfassungssysteme und kundenspezifische Untersuchungen mikropositionierend. Das 2001CDX Werkzeug unterstützt mehrere Wafer-Handhabungstürme, was Flexibilität für die gleichzeitige Handhabung mehrerer Wafer bietet. Ein einziger handpositionierter oder automatisierter Wafer-Handling-Tower kann mit dem Asset verwendet werden, um bis zu vier Chargen Wafer zum Testen aufzunehmen. Das Modell umfasst auch eine Sondenkartendesign und Diagnosestation, die mehrere Testsignalwege für eine verbesserte Testumgebung bereitstellt.