Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001CX #9278674 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001CX Prober ist ein leistungsstarkes, automatisiertes Wafer-Sondierungswerkzeug, das von EG entwickelt wurde. Es ist für Wafer-Level-Tests und Charakterisierung für F&E von ICs in Labor- und Fab-Produktionsumgebungen konzipiert. Die Maschine arbeitet, indem sie eine Reihe von Tests an Wafern durchführt, um elektrische und physikalische Eigenschaften jedes einzelnen Geräts auf dem Wafer zu erhalten. Es ist ein vertikal installiertes, mehrfach getestetes Werkzeug, das eine breite Palette von Sondenkarten, Sondenköpfen und Vorrichtungen verwendet, um die Präzisionskontrolle von Sonden und Prozessparametern zu ermöglichen. Die Sondenkarten und -köpfe sind für Wafer-Handhabung, Positionierung und Testbedingungen ausgelegt. Die Sonden selbst sind so ausgelegt, dass sie elektrische Eigenschaften, einschließlich Widerstand, Kapazität und Strom, messen. Die Maschine verwendet einen fortschrittlichen mikroprozessorgesteuerten Computer, um Ergebnisse zu analysieren, Testwerte aufzuzeichnen und die Maschine zu kalibrieren. EG 2001CX Prober verfügt über ein automatisiertes Wafer-Transfersystem, mit dem Wafer schnell be- und entladen werden können, was Bedienungsfehler reduziert und die Effizienz erhöht. Es hat eine breite Palette von Testfunktionen, einschließlich Sondierung, Pad-Manipulation, Signalkonditionierung, mehrere Sondenmuster und automatische Prüfung. Es verfügt auch über einen der größten Arbeitsbereiche eines Probers und bietet viel Platz zum Einrichten und Ausführen von Tests sowie zum Speichern von Daten. Es verfügt auch über eine mehrstufige Druckregelung, die verwendet wird, um genaue Messungen der Kontaktkraft zu gewährleisten. ELECTROGLAS 2001 CX Prober ist eine ideale Lösung für Labor- und Produktionstests von Wafer-Level-ICs. Mit seiner Flexibilität und seinen fortschrittlichen Funktionen bietet es Benutzern die Stabilität und Genauigkeit, die sie für ihre Tests benötigen. Es bietet eine konsistente, wiederholbare und zuverlässige Möglichkeit, elektrische, physikalische und chemische Eigenschaften von Wafern zu messen und zu charakterisieren.