Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9155069 zu verkaufen
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ID: 9155069
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision.DA (Eprom)
Ring carrier: RC-2
Profiler: Piston
Microscope: Olympus SZ-30
Chuck top: 6" Gold - Hot
Align camera: Cohu - Black
Z stage: PZ-250 (0.25-mil)
DAR resolution: High (DAR-II)
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-3
Power requirement: 220 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001CXE ist ein multifunktionaler Prober, der eine elektrische Prüfung und Gerätesondierung für eine Vielzahl von elektronischen Geräten ermöglicht. Dieser Prober ist in der Lage, hohe Genauigkeit, hohe Geschwindigkeit Sondierung Operationen mit manuellen und automatisierten Operationen zur Verfügung zu stellen. Es verfügt über ein integriertes SmartProbe-Design, das eine optimierte Prüfgenauigkeit und Wiederholbarkeit ermöglicht. EG 2001CXE ist ein 8-Achsen-Prober mit zwei XY (X&Y) -Stufen, einer Z-Stufe, einer OTheta-Stufe und einer MiStage. Es verfügt außerdem über ein Vakuumfutter für Substrate sowie eine optionale fünfachsige Drehstufe. Der Prober hat eine Auswahl an Standard- oder Hochgeschwindigkeitsmotoren und Fahrerelektronik für schnelle und präzise Sondierung. Der Prober verfügt über SmartZaber, eine fortschrittliche intelligente Softwarelösung, die Geräte- und Umgebungsvariablen kompensiert, die für eine erfolgreiche Sondierung erforderlich sind. Mit Hilfe von Daten aus der tatsächlichen Sondierungsumgebung optimiert SmartZaber Ergebnisse mit Korrekturen für die Ungleichmäßigkeit von Geräteflächen, Näheffekten, temperaturabhängiger Drift und anderen Faktoren. Der Prober nutzt auch die Sichtprüfung einschließlich Kontaminationsprüfung und kritische Pad-Erkennung, um die Wiederholbarkeit und Konsistenz der Sondierung zu gewährleisten. Dieses leistungsstarke Prober-System verfügt in ähnlicher Weise über Präzisions-Fiducial-Erkennungsfähigkeit sowie Vollfarben-Bildgebung mit 3D-Bildgebungsoption. ELECTROGLAS 2001 CXE ist kompatibel mit verschiedenen elektronischen Paketen und Substraten, wie SO (Small Outline), SOP (Small Outline Package), TAB (Tape Automated Bonding), BGA (Ball Grid Array) und vielen anderen. Dieses Probersystem ist robust, zuverlässig und erschwinglich sowie sowohl für Prototyp- als auch für Produktionsanwendungen geeignet. Darüber hinaus ist der Prober mit verschiedenen CAD-Tools und Leiterplattendesign-Software kompatibel. Insgesamt ist EG 2001 CXE ein vielseitiger Prober, der in der Lage ist, präzise, schnelle Sondierung in einer Vielzahl von elektronischen Pakettypen durchzuführen, während er auch fortschrittliche Sichtprüfungstechnologie verwendet und Kompatibilität mit verschiedenen CAD-Tools und PCB-Designsoftware bietet.
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