Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9155108 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001CXE ist eine Sondierungseinrichtung für Hochleistungs-Halbleiterwafer-Sondierung. Es bietet umfassende Wafer-Kontakttests von IC-Geräten von 0.6mm Pitch CSPs bis 44 Mil Fine-Pitch Ball Grid Arrays. Dieses System ist in der Lage, bis zu 4 digitale, 2 analoge oder 1 Power-Gerät auf 150mm, 200mm oder 300mm Wafer zu messen. Das Gerät ist sehr kompatibel mit Standard-Tastkarten, die den Einsatz von kostengünstigeren Mini-CardTM und großflächigen Schützbaugruppen ermöglichen. Die Maschine verwendet ein fortschrittliches Manipulationswerkzeug, das eine genaue Platzierung des Wafers gewährleistet und ein hohes Maß an Bewegungssteuerungsgenauigkeit bietet. Die Motion Control Asset ist in der Lage, hohe Geschwindigkeit X-Y Bewegung von Wafern sowie hochgenaue piezoelektrisch angetriebene Z-Achse Bewegung. Es verfügt auch über 4-Achsen-Kalibrierungen und Korrekturen für komplexe Wafer-Fehlstellungen. Das Modell bietet eine Vielzahl von Optionen, mit denen Benutzer ihre Testumgebung anpassen und feinjustieren können. Es umfasst eine Wafer-Stop-Ausrüstung zur präzisen und konsistenten Wafer-Position und ein Luftlager zur Wafer-Temperaturregelung. Es enthält auch einen High-Speed-Wafer-Pre-Sample-Timer, der die Probenladezeiten genau steuert, um den Durchsatz und die Prozessoptimierung zu verbessern. Darüber hinaus bietet das System eine optionale Lageüberfahrsperre, um Überfahrten und Beschädigungen zu vermeiden. EG 2001CXE bietet auch eine Vielzahl von Softwareoptionen, die der spezifischen Testumgebung des Benutzers entsprechen. Es beinhaltet eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) zur vollständigen Steuerung des Geräts und eine integrierte CAD-Importmaschine zur zeitsparenden Einrichtung und Analyse von Testdaten. Darüber hinaus bietet das Tool High-End-Datenerfassungsfunktionen mit dem Datenerfassungs-Asset der Reflection Series und bietet schnellere Durchlaufzeiten für Tests und Datenanalysen. Das Modell entspricht vollständig den Industriestandards, einschließlich SEMI-Standards, und verfügt über lange Produktlebenszyklen für zusätzliche Zuverlässigkeit. Die Ausrüstung ist mit Blick auf Haltbarkeit mit einem verstärkten Schrank und langlebige mechanische Komponenten konstruiert. Es verfügt auch über niedrige Vibrationsniveaus, Temperaturstabilität und variable Temperaturtrocknung. Abschließend ist ELECTROGLAS 2001 CXE ein hochentwickelter Hochgeschwindigkeitsprober, der für umfassende Waferkontaktprüfungen von IC-Geräten entwickelt wurde. Es bietet eine Reihe einzigartiger Funktionen und Optionen für Benutzer zur Anpassung und Feinabstimmung ihrer Testumgebung und entspricht vollständig den Industriestandards für mehr Zuverlässigkeit.