Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9208363 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001CXE
ID: 9208363
Wafer prober.
ELECTROGLAS/EG 2001CXE ist eine voll ausgestattete Prober-Ausrüstung. Es ist ein Werkzeug in der Halbleiterherstellung, Bauelementcharakterisierung und Forschung und Entwicklung verwendet. Es eignet sich gut für Wafer-Sondierung, hochpräzise Tests und Datenerfassung. Das System ist eine voll integrierte Architektur, die High-Speed-Sondierung, schnelles Schalten, lange Verweilzeiten und überlegene Low-Level-Leistung ermöglicht. Das Gerät ist auf einen geringen Platzbedarf ausgelegt und bietet Flexibilität für ein breites Anwendungsspektrum. Die Maschine ist für die Hochgeschwindigkeitssondierung konzipiert und bietet ausgezeichnete Genauigkeit, Wiederholbarkeit und hohen Durchsatz für Wafertests. EG 2001CXE wurde mit einer proprietären CXE-Sondenarchitektur entwickelt. Es verfügt über eine große Anzahl konfigurierbarer Schalter, einschließlich programmierbarer automatischer Scan-Sequenzierung, weit beabstandete Kanäle für überlegene Genauigkeit und einen Hochgeschwindigkeitsimpulsgenerator. Das Tool beinhaltet einen fortschrittlichen Antrieb, einschließlich einer angetriebenen dreiachsigen linearen Stufe und einer integrierten Vakuumklemme. Ergänzt wird das Modell durch die integrierte optische Lasereinrichtung, die eine berührungslose Sondenausrichtung ermöglicht. Der Prober wurde entwickelt, um eine breite Palette von elektrischen Konditionierungs- und Messfunktionen bereitzustellen, die eine effiziente Datenerfassung ermöglichen. Dazu gehören Digital I/O, USB, IEEE-488 GPIB, ECL/TTL und SPS/Maschinensteuerung. Es bietet auch viele Standard- und benutzerdefinierte Schnittstellen zur Steuerung ereignisbasierter Messoperationen. ELECTROGLAS 2001 CXE beinhaltet auch eine erweiterte Datenerfassungs- und Steuerungsmaschine. Dazu gehört ein softwarebasiertes virtuelles Instrument, mit dem Benutzer ihre Testeinstellungen grafisch konfigurieren, steuern und überwachen sowie erweiterte Funktionen wie Echtzeitdatenanalyse, umfassendes Datenmanagement und statistische Prozesskontrolle ermöglichen können. 2001CXE ist ein zuverlässiger, flexibler Prober, der auf die anspruchsvollen Anwendungen fortschrittlicher Halbleiterprozesse zugeschnitten ist. Es bietet überlegene Leistung und Genauigkeit für Wafertests, Datenerfassung und Gerätecharakterisierung. Es wurde entwickelt, um den Durchsatz zu verbessern und die Kosten zu senken, und bietet Benutzern die Flexibilität, ihre Testeinstellungen zu ändern und zu konfigurieren.
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