Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #186037 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001X
ID: 186037
Wafergröße: 6"
Prober, 6", upgraded Material Handler: Belt Track Capacity: 25 6” Wafers System Software: Prober Vision 249799-001.CE EPROM Based Auto Align Model: Cognex 2-Meg Auto Align Software: Revision DK Auto Align Camera: Cohu Chuck Top: 6-inch Gold Ambient Microscope: Olympus 99 with Fluorescent Illuminator Ring Carrier: RC-2 Ring Insert: Standard 6-inch NCES Sensor: Piston Z-Stage: PZ-150 0.50-mil Monitor: 9-inch Black and White Table: High Profile A4 communications board Requirements: Power: 115 VAC Air: 80 PSI Vacuum: 18” – 24” Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X prober ist ein kostengünstiges, zuverlässiges und leistungsstarkes Instrument, das bei der Wafer-Sondierung eingesetzt wird. Es ist eine vollwertige, automatische Prober mit einer mehrachsigen Motorplattform angetrieben Ausrüstung, die präzise Wafer Tabling, Bewegung und Manipulation ermöglicht. Das System ist ein computergesteuerter Präzisionsscanner mit einer 40-Positionen-Automatik. Diese passende Maschine unterstützt bis zu 200mm Wafer und ermöglicht auch das Be- und Entladen von Wafern bei voller Geschwindigkeit. Für das Tool Debugging akzeptiert die Sonde eine direkte Schnittstelle zu vielen Geräten und Systemen. Es verfügt über eine intuitive Windows-basierte Benutzeroberfläche für einfache Bedienung und Debug-Bewertung. Der Prober verfügt über ein elektromechanisches Design-Feature, das eine hervorragende wiederholbare Leistung bei langen Produktläufen bietet. Die Sonde verfügt außerdem über eine zuverlässige elektronische Kantenerkennung mit digitaler Videobildfähigkeit. Dies ermöglicht eine schnelle und genaue Ausrichtung und Beschichtung von Sonden auf den Wafer. Die Sonde kann sowohl für Einzel- als auch für Multi-Site-Probing-Anwendungen sowie zur Messung mehrerer Signale mit digitalen Zeitstempeln für jedes Signal verwendet werden. Seine schnelle Niederspannungssondierung eignet sich für fortschrittliche Technologieknoten und ist zuverlässig für die automatisierte Abtastung von Hochgeschwindigkeits-E/A-Signalen. Die Sonde enthält eine leistungsstarke C-Software-API, mit der Anwender benutzerdefinierte Sondierungsalgorithmen entwickeln und eigene Teststrukturen entwerfen können. Es enthält auch eine Bibliothek mit erweiterten Sondierungsalgorithmen, die das Sondieren einfacher, schneller und genauer macht. EG 2001 X Prober ist für schnelle, genaue Sondierung Entkopplung und Selbstintegritätsprüfung konzipiert. Dieser Prober bietet automatisierte Herstellung, Tests und Charakterisierung für Wafer-Sonden und seine abnehmbaren Sondenkarten, die automatisches Sockeln ermöglichen, seine Vielseitigkeit verbessern und Betriebskosten reduzieren.
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