Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #293604674 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001X
ID: 293604674
Wafergröße: 8"
Prober, 8".
ELECTROGLAS/EG 2001X prober ist ein automatisierter Wafer-Prober, der für den Einsatz in der Halbleiter-Wafer-Prüfung entwickelt wurde. Der Prober verfügt über eine große automatisierte XYZ-Bühne mit bis zu 400 mm Z-Weg für hohe Geräte wie MEMS und Photonik. Seine große Arbeitsfläche umfasst bis zu 300 mm Wafer, ohne Verschlechterung der Bewegungsgenauigkeit über die gesamte Arbeitsfläche. Der Prober verfügt zudem über ein einzigartiges flexibles Stiftdesign, das einen äußerst zuverlässigen und wiederholbaren elektrischen Weg bietet. Diese flexible Verbindung ermöglicht es dem Prober, mit einer Vielzahl von Pakettypen wie BGA, QFP, Flip-Chip und Bleigeräte zu arbeiten. Der Prober verfügt zudem über eine Elastomer-Technologie für eine sichere, vibrationsfreie Oberfläche, die Geräusche reduziert und die Testausbeuten verbessert. Die Funktion AUTOMATED DRIVING ASSISTANT auf EG 2001 X prober bietet eine intelligente Vision-Ausrüstung, um Testsonden automatisch auf Zielstifte zu führen. Das Vision-System verwendet eine grafische Benutzeroberfläche des Assistenten, um Testprogramme abzubilden, die den Betreibern helfen, Prober schnell und präzise einzurichten. Der Prober ist auch in der Lage, konstante Zeitverzögerungsmessungen durchzuführen, die bei der Prüfung von drahtlosen Transceiver-Geräten wie Wi-Fi und Bluetooth wichtig sind. Darüber hinaus verfügt ELECTROGLAS EG2001X prober über eine zentralisierte Benutzeroberfläche, mit der Benutzer einfach mehrere Testprogramme erstellen und verwalten sowie alle Prober in einer Einheit überwachen und steuern können. Der Prober wird mit einem Intel Xeon Quad-Core-Prozessor und bis zu 128 GB RAM betrieben, was eine zuverlässige und schnelle Wafer-Testplattform ermöglicht. EG2001X prober bietet darüber hinaus ein hohes Maß an Maschinenflexibilität, um die sich ändernden Anforderungen der Testtechnik und -operationen abzudecken. Das Tool verfügt über mehrere erweiterbare Konnektivitätsknoten (ECNs) und bietet eine modulare und erweiterbare Architektur, mit der Benutzer die Funktionen schnell erweitern können, um bestimmte Anforderungen zu erfüllen. Die ECNs bieten eine Reihe zusätzlicher Software- und Hardwareoptionen, darunter Datenlogger und Vision-Systeme zur automatisierten Gerätecharakterisierung, hochpräzise Messtechnik für Wafer-Level-Tests und mehrere Test-Head-Schnittstellen zum Testen von Geräten mit unterschiedlichen Paketen, die unterschiedliche Sonden erfordern. Die Windows-Umgebung des Probers ermöglicht eine einfache Integration in Standard-Labornetzwerke und die etablierte Zuverlässigkeit ihrer Hard- und Software sorgt für eine sichere und zuverlässige Umgebung. Alle diese Funktionen kommen zusammen, um einen automatisierten Prober zu erstellen, der eine breite Palette von Testanwendungen verarbeiten kann. 2001 X ist eine leistungsstarke und hochfähige automatisierte Wafer-Testplattform.
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