Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #293604675 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X prober ist ein High-End-Wafer-Prüfgerät für den Einsatz in der Halbleiterherstellung. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Wafertypen, einschließlich Silizium, Galliumarsenid und SOI, zu untersuchen, zu inspizieren und Diagnosen durchzuführen. Der Prober verfügt über eine automatisierte Paddelladeausrüstung mit bis zu zehn Paddeln, die gleichzeitig auf den Waferträger geladen werden. Dieses System minimiert die benötigte Zeit, um den Wafer auf den Prober zu legen, und ermöglicht eine minimale Unterbrechung während der einzelnen Sondenoperationen. Die geringe Beschleunigung und geringe Rahmenschwingung der Maschine verhindert Schäden an empfindlichen Geräten und reduziert die Positionsverschiebung. EG 2001 X verwendet eine Neun-Achsen-Bewegungseinheit, die in der Lage ist, hochpräzise Bewegungsprofile und -geschwindigkeiten bis zu Geschwindigkeiten von 300 mm/s zu liefern. Der Prober hat auch die Fähigkeit, Gelände mit einem Z-Achsen-Lift zu verhandeln, was die Wafer-Ladezeit verringert, zusätzlich zu einer genaueren Wafer-Platzierung. Die handelsübliche optische Maschine ermöglicht die Steuerung der Benutzerausrichtung jeder der Nadeln sowie die Bereitstellung eines einstellbaren elektrischen Anschlusses für jede Nadel. Dies gewährleistet eine genaue und zuverlässige Verbindung mit den Testpads der elektronischen Komponenten. Der Prober bietet eine Vielzahl von Kalibrierungsfunktionen, einschließlich Ausrichtungsversatz und Nadelspitzenkalibrierung, sowie die Möglichkeit, mehrere Sondenkanäle gleichzeitig zu synchronisieren. Variable Vergrößerungsfunktionen ermöglichen es dem Benutzer, die Geräteausrichtung genau anzuzeigen und zu überwachen, mit erhöhten Signal-Rausch-Verhältnissen, um die Leistung des Probers zu verbessern. Der Prober ist mit verschiedenen Konnektivitäts- und Datenübertragungsfunktionen ausgestattet, wie GPIB, Ethernet und SVGAM, die Hochgeschwindigkeits-Datenübertragungen und maximale Kompatibilität mit Halbleiterherstellungssteuerungssystemen bieten. Darüber hinaus verfügt ELECTROGLAS EG2001X auch über Programm- und Datensicherungsfunktionen, die es dem Benutzer ermöglichen, alle Testdaten auch nach einem Stromausfall sicher wiederherzustellen. Die umfassende Palette an Testfunktionen sowie die erweiterten Bewegungs- und Verbindungsfunktionen machen den Prober ELECTROGLAS/EG 2001 X zu einem unverzichtbaren Werkzeug für effiziente Halbleitergerätetests.