Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #293606276 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein fortschrittlicher Prober, der für den Einsatz in der Zuverlässigkeit und Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, fortschrittliche Sondierungslösungen zur Ermittlung und Bewertung von Gerätefehlern im topographischen Detail zu integrieren. Der Prober besteht aus einem Gehäuse aus Edelstahl mit einem oben montierten Drehauswahlrevolver, einem Vakuumsystem und mehreren Gegenstücken. Der Rotationsauswahlrevolver beherbergt zwei 8-armige Waferhalter, zwei mikromanipulierbare Prober und einen mikromanipulierbaren Referenzprober. Die Waferhalter ermöglichen es dem Wafer, Wafer verschiedener Größen und symmetrischer Muster in einer einzigen Bewegung zu sichern. Der Prober verwendet ein ausgeklügeltes geschlossenes Vakuumsystem sowie eine Reihe von Positionsrückkopplungssensoren und IR-LEDs, um eine präzise und fehlerfreie Ausrichtung und sichere Verbindung der Sonden mit dem zu prüfenden Gerät zu gewährleisten. Das System ist so konzipiert, dass eine zuverlässige Verbindung mit sehr geringer Wärmeübertragung zwischen den Sonden und dem Gerät gewährleistet ist, um genaue elektrische Messungen auch bei hohen Leistungsdichten zu gewährleisten. Der Prober verfügt über eine intuitive, berührungsgesteuerte Benutzeroberfläche, um die Prozesseinrichtung und Datenerfassung schnell und einfach zu gestalten. Durch die Bedienung der motorisierten Köpfe und einzelnen Prober-Köpfe haben die Bediener die Möglichkeit, Fähigkeiten und Geschwindigkeit anzupassen. Die Maschine bietet auch eine Vielzahl von analytischen und Engineering-Tools für fortgeschrittene Anwender, wie automatisierte geometrische Korrektur, Atomkraft-Mikroskopie-Bildgebung, und Schneide elektrische Diagnostik für Geräte-Charakterisierung und Fehleranalyse. EG 2001 X ist ein leistungsstarkes und genaues Werkzeug zur Zuverlässigkeits- und Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen. Dank intuitivem Workflow, robustem Design und fortschrittlichen integrierten Prober-Lösungen können Anwender Gerätedefekte schnell erkennen und ihre Designs optimieren, um Ausfälle zu minimieren und die Zuverlässigkeit zu verbessern.