Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #293620735 zu verkaufen

ELECTROGLAS / EG 2001X
Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001X
ID: 293620735
Prober.
ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein Prober zur hochpräzisen elektrischen Prüfung von Halbleiterbauelementen. Sie dient vor allem der Sondierung, Messung und Diagnose von Halbleiterbauelementen auf Wafer- und Geräteebene. Das einzigartige Design des Probers ermöglicht den Einsatz in hochpräzisen Testanwendungen, einschließlich Abscheidung, Lithographie, Entfernung und Prüfung von Halbleiterbauelementen. EG 2001 X verwendet eine breite Palette von Sondenköpfen und Wafern, darunter Keramik, Silizium, Aluminiumoxid, Siliziumnitrid, Gold und mehr. Der Prober ist so konzipiert, dass er eine Sondenkraft von 0 bis 35 Gramm und eine Sondengeschwindigkeit von bis zu 800 mm/s bereitstellt. Der Prober ist in der Lage, über einen Temperaturbereich von -65 ° C bis + 200 ° C Kontaktwiderstand und Strom/Spannungscharakteristik zu bestimmen. Darüber hinaus verfügt ELECTROGLAS EG2001X über eine Reihe von Werkzeugen und Prozessen, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit der Gerätetests zu maximieren. Es verwendet automatisierte Wafer-Erkennungs- und Wafer-Ausrichtungssysteme, um sicherzustellen, dass der richtige Wafer eingesetzt wird und die richtige Position geprüft wird. Darüber hinaus verfügt es über einen vollständigen Satz von Z-Befehlen zur Anpassung der Tastsequenzierung und der Verstärkungssteuerung. Der Prober kann auch bis zu 2000 Wafer aufnehmen, mit einer maximalen Wafergröße von 150mm. Es ist mit einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI) und einer Kommunikationsschnittstelle für den Fernzugriff ausgestattet. Es enthält einen integrierten digitalen Signalprozessor (DSP) zur digitalen Signalverarbeitung, Datenerfassung und Protokollierung. Darüber hinaus verfügt der Prober über eine fortschrittliche Speichertechnologie, die die Speicherung und Übertragung von Testdaten sowie ein umfassendes Sicherheitssystem für sichere Datenübertragungen ermöglicht. 2001 X ist ein zuverlässiger und präziser Prober, der den anspruchsvollen Anforderungen der Halbleitergeräteprüfung gerecht wird. Dank seiner breiten Palette an Funktionen, Werkzeugen und Prozessen ist es eine ideale Wahl für fortgeschrittene Testanwendungen sowie hochpräzise Messungen und Diagnosen.
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